基于泄漏电流递归分析的绝缘子状态检测研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| ·选题背景及意义 | 第9-11页 |
| ·基于泄漏电流分析的绝缘子检测研究现状 | 第11-17页 |
| ·泄漏电流值检测法 | 第11-12页 |
| ·泄漏电流脉冲检测法 | 第12-13页 |
| ·泄漏电流频域检测法 | 第13-14页 |
| ·人工神经网络检测法 | 第14-16页 |
| ·基于回归分析的检测方法 | 第16页 |
| ·基于模糊理论的检测方法 | 第16-17页 |
| ·研究内容与结构安排 | 第17-19页 |
| ·创新点 | 第19-20页 |
| 第二章 绝缘子表面泄漏电流的混沌判断与分析 | 第20-42页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·混沌的发展与特征 | 第20-22页 |
| ·混沌的发展历程 | 第20-21页 |
| ·混沌的主要特征 | 第21-22页 |
| ·泄漏电流序列的相空间重构 | 第22-23页 |
| ·绝缘子浓雾闪络试验 | 第23-26页 |
| ·试验系统与参数 | 第23-25页 |
| ·绝缘子浓雾闪络过程及泄漏电流 | 第25-26页 |
| ·绝缘子表面泄漏电流的混沌特征 | 第26-41页 |
| ·Lyapunov 指数 | 第26-28页 |
| ·分形维数 | 第28-35页 |
| ·功率谱密度 | 第35-37页 |
| ·吸引子相图 | 第37-39页 |
| ·Poincare 截面 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第三章 基于泄漏电流递归分析的绝缘子浓雾闪络监测 | 第42-64页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·试验系统与方法 | 第42-43页 |
| ·泄漏电流的时频特征分析 | 第43-44页 |
| ·泄漏电流值的变化特征 | 第43页 |
| ·泄漏电流频域特征分析 | 第43-44页 |
| ·泄漏电流的递归分析 | 第44-50页 |
| ·递归图概念与算法 | 第44-45页 |
| ·递归图的拓扑结构 | 第45-46页 |
| ·递归定量分析 | 第46-48页 |
| ·泄漏电流递归图的影响参数 | 第48-50页 |
| ·递归图法监测绝缘子表面状态及污闪过程 | 第50-63页 |
| ·绝缘子污闪过程与机理 | 第50-52页 |
| ·污闪发展过程中泄漏电流的变化特征 | 第52-53页 |
| ·基于小波变换的泄漏电流频率特征提取 | 第53-56页 |
| ·基于递归分析的绝缘子污闪过程监测 | 第56-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第四章 递归分析法检测污湿环境下绝缘子运行状态 | 第64-80页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·试验系统与方法 | 第64-66页 |
| ·试样 | 第64-65页 |
| ·试验系统与方法 | 第65-66页 |
| ·不同污湿环境下绝缘子表面状态与泄漏电流特征分析 | 第66-75页 |
| ·表面状态分析 | 第66-67页 |
| ·泄漏电流特征分析 | 第67-75页 |
| ·污湿环境下绝缘子运行状态的递归检测 | 第75-78页 |
| ·递归图定性表征 | 第75-77页 |
| ·递归定量指标 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-80页 |
| 第五章 递归分析法监测绝缘子雾凇闪络 | 第80-91页 |
| ·引言 | 第80页 |
| ·试验系统与方法 | 第80-81页 |
| ·雾凇环境下绝缘子表面状态及闪络过程 | 第81-87页 |
| ·绝缘子表面的雾凇状态 | 第81-83页 |
| ·雾凇闪络现象与过程分析 | 第83-84页 |
| ·雾凇闪络过程泄漏电流分析 | 第84-86页 |
| ·雾凇闪络过程中放电特征分析 | 第86-87页 |
| ·递归图法监测绝缘子雾凇闪络 | 第87-90页 |
| ·雾凇闪络过程中泄漏电流的工频滤波 | 第87-89页 |
| ·递归图定性表征闪络过程 | 第89页 |
| ·递归定量指标分析 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第六章 结论与展望 | 第91-94页 |
| ·本文的主要结论 | 第91-92页 |
| ·研究展望 | 第92-94页 |
| 参考文献 | 第94-102页 |
| 攻读博士学位期间的科研成果 | 第102-104页 |
| 致谢 | 第104页 |
