| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 引言 | 第8-22页 |
| ·薄膜及磁性薄膜材料概述 | 第8-9页 |
| ·磁记录的记录方式和存在的问题及解决办法 | 第9-11页 |
| ·磁晶各向异性 | 第11-13页 |
| ·形状各向异性 | 第13-14页 |
| ·磁记录介质的重要参量 | 第14-20页 |
| ·矫顽力 | 第14-15页 |
| ·剩余磁化强度和饱和磁化强度 | 第15页 |
| ·磁滞回线的方形度 | 第15-17页 |
| ·磁相互作用 | 第17-18页 |
| ·磁激活体积 | 第18-19页 |
| ·颗粒临界尺寸 | 第19-20页 |
| ·研究工作目的及内容 | 第20-22页 |
| 2 实验和测试 | 第22-38页 |
| ·薄膜的制备 | 第22-30页 |
| ·薄膜的制备工艺 | 第22-26页 |
| ·真空蒸镀法 | 第22-23页 |
| ·溅射法 | 第23-25页 |
| ·电镀法 | 第25-26页 |
| ·样品的制备过程 | 第26-29页 |
| ·基片清洗 | 第26页 |
| ·磁控溅射 | 第26-28页 |
| ·薄膜样品的热处理 | 第28-29页 |
| ·薄膜生长 | 第29页 |
| ·薄膜厚度的表征 | 第29-30页 |
| ·薄膜的测试及原理 | 第30-38页 |
| ·磁特性的测量 | 第30-32页 |
| ·晶体结构的测量 | 第32-33页 |
| ·表面形貌及磁结构的测量 | 第33-35页 |
| ·测试 | 第35-38页 |
| 3 (Ag)/Co/Ag 薄膜微结构与磁特性的研究 | 第38-58页 |
| ·不同的衬底层厚度对Ag/Co/Ag 薄膜微结构与磁特性的影响 | 第38-42页 |
| ·样品的制备 | 第38页 |
| ·实验结果和讨论 | 第38-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| ·不同厚度的Co 磁性层对Ag（4nm）/Co(t)/Ag(4nm)薄膜微结构与磁特性的影响 | 第42-46页 |
| ·样品的制备 | 第42页 |
| ·实验结果和讨论 | 第42-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| ·退火温度对Ag（4nm）/Co(15nm)/Ag(4nm)薄膜微结构与磁特性的影响 | 第46-51页 |
| ·样品的制备 | 第46页 |
| ·结果和讨论 | 第46-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| ·退火温度对Co（15nm）的影响 | 第51-58页 |
| ·样品的制备 | 第51页 |
| ·结果和讨论 | 第51-56页 |
| ·小结 | 第56-58页 |
| 4 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 攻读学位期间取得的科研成果 | 第68页 |
