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算术运算电路的通路时延故障测试

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第一章 绪论第11-20页
   ·本文研究背景和意义第11-13页
   ·时延故障测试简介第13-15页
   ·国内外研究现状第15-17页
   ·本文主要工作及结构安排第17-20页
第二章 通路时延故障测试的分类第20-30页
   ·概述第20-22页
   ·通路时延故障测试术语第22-23页
   ·单通路时延故障测试的分类第23-29页
   ·本章小结第29-30页
第三章 时延故障测试序列生成器算法原理及硬件实现第30-45页
   ·概述第30-32页
   ·时延故障SIC测试序列生成器的已有研究第32-33页
   ·基于累加器的SIC测试序列生成器算法原理及硬件实现第33-43页
   ·本章小结第43-45页
第四章 加法器通路时延故障测试第45-74页
   ·概述第45-46页
   ·条件和加法器的结构第46-47页
   ·条件和加法器通路时延故障的可测性分析第47-53页
   ·学习策略实现的条件和加法器测试向量生成第53-65页
   ·并行前置树型加法器通路时延故障测试第65-72页
   ·本章小结第72-74页
第五章 阵列乘法器通路时延故障测试第74-87页
   ·概述第74页
   ·阵列乘法器结构第74-76页
   ·阵列乘法器通路时延故障的内建自测试第76-85页
   ·本章小结第85-87页
第六章 模块化算术运算电路通路时延故障测试第87-113页
   ·概述第87-89页
   ·布尔可满足性问题第89-94页
   ·布尔可满足性与时延故障测试第94-96页
   ·层次化通路时延故障测试第96-104页
   ·模块化的功能时延故障测试第104-112页
   ·本章小结第112-113页
第七章 结束语第113-116页
   ·全文总结第113-115页
   ·进一步的工作第115-116页
致谢第116-117页
参考文献第117-126页
作者攻博期间取得的成果第126页

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