| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| ·研究的背景及意义 | 第13页 |
| ·国内外研究的历史及现状 | 第13-16页 |
| ·集成电路测试生成技术的发展 | 第13-15页 |
| ·二元决策图BDD的发展 | 第15-16页 |
| ·本文的研究工作及组织安排 | 第16-17页 |
| 第二章 集成电路测试 | 第17-32页 |
| ·测试概述 | 第17-18页 |
| ·故障模型 | 第18-20页 |
| ·故障压缩 | 第20-23页 |
| ·故障等价 | 第21-22页 |
| ·故障支配 | 第22-23页 |
| ·测试中的度量 | 第23-24页 |
| ·故障压缩比 | 第23页 |
| ·故障覆盖率 | 第23页 |
| ·可测性度量 | 第23-24页 |
| ·组合电路测试生成方法 | 第24-31页 |
| ·穷举法 | 第25页 |
| ·单路径敏化法 | 第25页 |
| ·D算法 | 第25-27页 |
| ·PODEM | 第27-29页 |
| ·FAN | 第29-31页 |
| ·布尔差分 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 二元决策图BDD | 第32-41页 |
| ·BDD概述 | 第32-36页 |
| ·BDD的主要操作 | 第36-40页 |
| ·BDD节点生成 | 第36-37页 |
| ·BDD的构造 | 第37-38页 |
| ·BDD间的运算 | 第38-39页 |
| ·BDD的约束 | 第39-40页 |
| ·BDD的遍历 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于相邻对称变量的BDD排序优化 | 第41-48页 |
| ·概述 | 第41-42页 |
| ·BDD排序优化算法 | 第42-44页 |
| ·BDD排序优化算法分类 | 第42页 |
| ·精确排序算法 | 第42-44页 |
| ·布尔函数中的对称变量 | 第44页 |
| ·基于相邻对称变量的排序优化 | 第44-46页 |
| ·实验结果 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法 | 第48-58页 |
| ·概述 | 第48页 |
| ·测试生成的布尔差分法 | 第48-49页 |
| ·基于BDD和布尔差分的测试生成 | 第49-56页 |
| ·针对单固定型故障的测试生成 | 第49-53页 |
| ·完整电路的分割 | 第53-54页 |
| ·故障摘除 | 第54-56页 |
| ·完整的组合电路测试生成方法 | 第56页 |
| ·实验结果 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·论文总结 | 第58-59页 |
| ·未来工作的展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 硕士研究生阶段发表的论文 | 第64页 |