| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-14页 |
| ·研究背景 | 第12页 |
| ·研究现状 | 第12-13页 |
| ·课题研究内容及意义 | 第13-14页 |
| 第二章 基础知识 | 第14-26页 |
| ·传输线 | 第14-19页 |
| ·传输线定义 | 第14页 |
| ·PCB或MCM中的传输线结构 | 第14-15页 |
| ·传输线参数 | 第15-18页 |
| ·印制线中应用 | 第18-19页 |
| ·示波器 | 第19-26页 |
| ·示波器分类 | 第20-21页 |
| ·示波器参数 | 第21-24页 |
| ·探棒和附件 | 第24-26页 |
| 第三章 针对CLOCK GEN的信号检测 | 第26-45页 |
| ·基础介绍 | 第26-27页 |
| ·缓冲器类型时钟驱动器 | 第26页 |
| ·带锁相环的时钟驱动器 | 第26-27页 |
| ·常见CLOCK GEN的SI问题 | 第27-32页 |
| ·偏斜 | 第27-28页 |
| ·抖动 | 第28-31页 |
| ·反射与多次反射 | 第31-32页 |
| ·设计时钟发生器的检测方法 | 第32-36页 |
| ·时钟基本工业标准 | 第32-33页 |
| ·确定检测对象 | 第33-34页 |
| ·选择检测设备 | 第34-36页 |
| ·具体检测步骤 | 第36页 |
| ·检测方法的应用与SI问题解决 | 第36-45页 |
| ·引起反射的因素 | 第36页 |
| ·端接 | 第36-39页 |
| ·消除反射实例 | 第39-45页 |
| 第四章 针对PCI与DDRII的信号检测 | 第45-57页 |
| ·基础知识 | 第45-48页 |
| ·PCI | 第45-46页 |
| ·DDRII | 第46-48页 |
| ·设计对应的检测方法 | 第48-52页 |
| ·基本工业标准 | 第48-50页 |
| ·确定检测对象 | 第50-51页 |
| ·选择检测设备 | 第51-52页 |
| ·具体检测步骤 | 第52页 |
| ·检测方案的应用与SI问题解决 | 第52-57页 |
| 第五章 针对SATA与PCI-Express信号检测 | 第57-67页 |
| ·基础知识 | 第57-60页 |
| ·Serial ATA | 第57-58页 |
| ·从PCI到PCI-X到PCI Express | 第58-60页 |
| ·设计对应的检测方法 | 第60-64页 |
| ·基本工业标准 | 第60-63页 |
| ·确定检测对象 | 第63-64页 |
| ·选择检测设备 | 第64页 |
| ·具体检测步骤 | 第64页 |
| ·检测方法的应用与SI问题解决 | 第64-67页 |
| 第六章 针对USB的信号检测 | 第67-79页 |
| ·基础知识 | 第67-68页 |
| ·USB1.1 | 第67页 |
| ·USB2.0 | 第67-68页 |
| ·设计对应的检测方法 | 第68-74页 |
| ·基本工业标准 | 第68页 |
| ·选择检测设备 | 第68页 |
| ·确定检测对象 | 第68页 |
| ·具体检测步骤 | 第68-74页 |
| ·检测方法的应用与SI问题解决 | 第74-79页 |
| ·High-Speed Signal Quality测试 | 第75-77页 |
| ·Full-Speed Signal Quality测试 | 第77-78页 |
| ·Droop Test | 第78-79页 |
| 第七章 针对Ethernet的信号检测 | 第79-88页 |
| ·基础知识 | 第79-80页 |
| ·设计对应的检测方法 | 第80-84页 |
| ·基本工业标准 | 第80页 |
| ·确定检测项目 | 第80-83页 |
| ·选择检测设备 | 第83页 |
| ·具体检测步骤 | 第83-84页 |
| ·检测方法的应用与SI问题解决 | 第84-88页 |
| ·10Base-T以太网接口测试 | 第84-85页 |
| ·100Base-TX以太网接口测试 | 第85-86页 |
| ·设计优化后图形 | 第86-88页 |
| 第八章 总结与展望 | 第88-90页 |
| ·主要工作和成果 | 第88-89页 |
| ·创新性与展望 | 第89-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-93页 |
