| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-19页 |
| ·课题的背景与意义 | 第11-13页 |
| ·钻杆无损检测系统的研究现状 | 第13-16页 |
| ·钻杆无损检测方法的研究现状 | 第13-15页 |
| ·钻杆无损检测系统的研究及应用现状 | 第15-16页 |
| ·漏磁无损检测技术的原理与研究现状 | 第16-18页 |
| ·漏磁检测技术的原理及特点 | 第16-17页 |
| ·国内外漏磁检测技术的研究现状 | 第17-18页 |
| ·论文的主要工作 | 第18-19页 |
| 2 钻杆漏磁无损检测系统的方案设计 | 第19-25页 |
| ·检测方法的确定 | 第19-20页 |
| ·检测方案的确定 | 第20-21页 |
| ·钻杆无损检测系统总体结构方案设计 | 第21-25页 |
| ·钻杆检测的工艺流程 | 第22页 |
| ·系统整体结构说明 | 第22-25页 |
| 3 钻杆横向缺陷漏磁检测方法的研究与实现 | 第25-38页 |
| ·磁化方式 | 第25-27页 |
| ·磁化方式概述 | 第25-26页 |
| ·磁化方式的确定 | 第26-27页 |
| ·线圈磁场的分布及计算 | 第27-30页 |
| ·薄壁线圈磁场的计算 | 第27-29页 |
| ·厚壁线圈磁场的计算 | 第29-30页 |
| ·线圈磁场的分布 | 第30页 |
| ·钻杆纵向磁化时端部退磁场的影响及端部效应的产生原理 | 第30-32页 |
| ·端部退磁场的研究 | 第30-32页 |
| ·端部效应产生的原理 | 第32页 |
| ·磁化装置供电电源的设计 | 第32-35页 |
| ·恒流电源的设计 | 第33-34页 |
| ·调整管保护电路的设计 | 第34-35页 |
| ·不同规格钻杆最佳磁化强度的研究 | 第35-38页 |
| ·铁磁性材料的磁化特性 | 第35-36页 |
| ·闭路磁化与开路磁化的比较 | 第36-38页 |
| 4 磁场的有限元分析 | 第38-52页 |
| ·有限元法 | 第38-39页 |
| ·ANSYS有限元分析软件概述 | 第39-40页 |
| ·应用 ANSYS进行二维静态磁场分析 | 第40-48页 |
| ·应用 ANSYS进行分析的步骤 | 第40-43页 |
| ·空心线圈磁场的模拟分析 | 第43-45页 |
| ·线圈中通入钻杆的磁场分析 | 第45-48页 |
| ·不同规格钻杆最佳磁化强度的确定 | 第48-52页 |
| 5 纵向缺陷检测装置的研究与实现 | 第52-56页 |
| ·纵向缺陷检测装置系统结构的确定 | 第52-53页 |
| ·纵向缺陷检测装置供电和信号传输方法的研究 | 第53-56页 |
| ·几种供电和信号传输方法的介绍 | 第53-55页 |
| ·纵向缺陷检测装置供电和信号传输方法的确定 | 第55-56页 |
| 6 钻杆漏磁检测数据采集系统的设计 | 第56-74页 |
| ·数据采集系统的两个设计指标 | 第56-58页 |
| ·采样率的确定 | 第56-58页 |
| ·采样精度及量程的确定 | 第58页 |
| ·数据采集系统总体方案的确定 | 第58-59页 |
| ·数据采集卡 PCI-1716概述 | 第59-61页 |
| ·FPGA的特点及应用流程 | 第61-65页 |
| ·FPGA概述 | 第61页 |
| ·FPGA的开发流程 | 第61-63页 |
| ·ISE软件综述 | 第63-64页 |
| ·VHDL概述 | 第64-65页 |
| ·XILINX公司 SPARTAN-IIE系列 FPGA | 第65页 |
| ·FPGA芯片配置电路设计 | 第65-68页 |
| ·Xilinx FPGA的配置引脚 | 第65-66页 |
| ·Xilinx公司FPGA器件的配置方法 | 第66-67页 |
| ·FPGA芯片与 PROM的连接电路 | 第67-68页 |
| ·系统软件设计 | 第68-72页 |
| ·横向缺陷检测程序的设计 | 第68-71页 |
| ·纵向缺陷检测程序的设计 | 第71-72页 |
| ·实验结果 | 第72-74页 |
| 7 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 附录 A 钻杆直流励磁漏磁检测数据采集电路 | 第78-80页 |
| 在学研究成果 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |