四象限红外探测器入检测试系统
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·课题来源与研究背景 | 第8-10页 |
·探测器入检系统的要求 | 第10-12页 |
·课题的研究内容及关键技术 | 第12-13页 |
2 入检系统的原理与设计方案 | 第13-34页 |
·四象限红外探测器 | 第13-16页 |
·光电参数测量方法 | 第16-26页 |
·系统设计 | 第26-29页 |
·设备组成 | 第29-33页 |
·本章小结 | 第33-34页 |
3 入检系统的光学系统调试 | 第34-47页 |
·光学系统组成 | 第34页 |
·激光光源调试 | 第34-43页 |
·光路设计与调试 | 第43-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
4 温控系统设计 | 第47-56页 |
·制冷方式选择 | 第47页 |
·光电器件常用的低温制冷器 | 第47-49页 |
·半导体制冷片 | 第49-50页 |
·光电探测器暗电流分析 | 第50-52页 |
·温控系统设计 | 第52-56页 |
5 测试结果及分析 | 第56-59页 |
·脉冲响应灵敏度结果分析 | 第56页 |
·串扰值测试结果分析 | 第56-57页 |
·暗电流测量结果分析 | 第57-59页 |
6 总结 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
附录1 攻读学位期间发表论文目录 | 第64-65页 |
附录2 探测器入检设备主要部件性能表 | 第65-67页 |
附录3 入检设备机柜图 | 第67-68页 |
附录4 探测器夹具设计图 | 第68-71页 |
附录5 入检设备照片 | 第71页 |