全景环形成像透镜的成像质量评价
摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第一章 引言 | 第7-11页 |
·课题背景及意义 | 第7-8页 |
·像质评价发展现状 | 第8-9页 |
·本论文的主要研究工作 | 第9-11页 |
第二章 全景环带成像光学系统 | 第11-20页 |
·全景成像的原理 | 第11-15页 |
·中心投影法 | 第11-13页 |
·平面圆柱投影法 | 第13-14页 |
·全景环形成像透镜的几何光学构成 | 第14-15页 |
·全景环形成像透镜的成像特性 | 第15-19页 |
·全景环形成像镜头的应用 | 第19-20页 |
第三章 MTF评价像质原理及方法 | 第20-40页 |
·MTF的基本概念 | 第20-23页 |
·光学系统成像和点扩散函数 | 第21页 |
·光学传递函数的定义 | 第21-23页 |
·测量MTF的各种方法 | 第23-36页 |
·扫描法 | 第24-31页 |
·自相关法 | 第31-35页 |
·互相关法 | 第35-36页 |
·频谱比较法 | 第36页 |
·利用MTF评价成像质量的方法 | 第36-39页 |
·利用MTF曲线来评价成像质量 | 第36-37页 |
·利用MTF曲线的积分值评价成像质量 | 第37-39页 |
·本课题所采用的利用MTF评价像质的方法 | 第39-40页 |
第四章 PAL像质检测系统硬件选择、组成及实现 | 第40-54页 |
·测量系统的光路安排和参数选择 | 第42-44页 |
·与光学传递函数相关的参数 | 第42页 |
·测量光路的安排 | 第42-44页 |
·平行光管的选择 | 第44-46页 |
·CMOS成像器件 | 第46-51页 |
·CMOS图像传感器的芯片结构 | 第47-48页 |
·CMOS图像传感器的像元电路 | 第48-49页 |
·本测量系统所采用的CMOS传感器 | 第49-51页 |
·机械结构设计 | 第51-53页 |
·三维移动调节架 | 第51-52页 |
·消除杂散光影响的暗箱结构 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第五章 PAL像质检测系统软件设计及实现 | 第54-65页 |
·ESF的算法 | 第54-60页 |
·LSF的计算 | 第60-62页 |
·MTF的计算 | 第62-63页 |
·MATLAB软件介绍 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
第六章 测量结果及误差分析 | 第65-91页 |
·测量结果 | 第65-90页 |
·镜头在60°入射角时测得的结果 | 第65-84页 |
·镜头在30°入射角时测得的结果 | 第84-87页 |
·镜头在10°入射角时测量所得的结果 | 第87-89页 |
·测量结果分析 | 第89-90页 |
·误差分析 | 第90-91页 |
·杂光对测量结果的影响 | 第90页 |
·CMOS对测量结果的影响 | 第90-91页 |
第七章 总结与展望 | 第91-93页 |
参考文献 | 第93-97页 |
致谢 | 第97页 |