MIT单通道测量电路的优化设计与实现
| 缩略语表 | 第1-7页 |
| 中文摘要 | 第7-9页 |
| 英文摘要 | 第9-12页 |
| 前言和文献回顾 | 第12-22页 |
| 正文 | 第22-66页 |
| 1 MIT硬件系统的总体设计 | 第22-27页 |
| ·MIT基本原理 | 第22-23页 |
| ·MIT数学模型 | 第23-24页 |
| ·MIT系统的总体设计 | 第24-27页 |
| ·总体设计思想 | 第25页 |
| ·MIT系统实现原理图 | 第25-26页 |
| ·系统设计要求 | 第26-27页 |
| 2 激励源设计 | 第27-43页 |
| ·MIT高性能激励源的设计与实现 | 第27-37页 |
| ·设计要求 | 第27页 |
| ·框图与电路实现 | 第27-30页 |
| ·线圈的设计 | 第30-32页 |
| ·激励线圈与功率放大器的阻抗匹配设计 | 第32-37页 |
| ·激励源特性分析 | 第37-42页 |
| ·结果与讨论 | 第42-43页 |
| 3 检测模块电路设计 | 第43-60页 |
| ·检测电路结果框图 | 第43页 |
| ·检测电路的具体实现 | 第43-55页 |
| ·电路性能测试 | 第55-60页 |
| ·自动增益电路性能测试 | 第55-56页 |
| ·直流增益、滤波和缓冲电路性能测试 | 第56-58页 |
| ·检测信号失真度测试 | 第58-60页 |
| 4 系统性能测试与结果分析 | 第60-66页 |
| ·系统性能测试 | 第60-61页 |
| ·测试结果与分析 | 第61-65页 |
| ·单个目标的几何尺寸和电导率的分辨能力 | 第61-62页 |
| ·轴向位置与灵敏度的关系 | 第62-63页 |
| ·系统相位噪声 | 第63-64页 |
| ·系统稳定性与可重复性 | 第64-65页 |
| ·系统总体性能评价 | 第65-66页 |
| 总结与展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-74页 |
| 附录 所设计的电路板与线圈 | 第74-76页 |
| 个人简历和研究成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
