| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 插图目录 | 第10-11页 |
| 表格目录 | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-26页 |
| ·模拟测量电路精度增长方法的研究背景 | 第12页 |
| ·模拟测量电路精度增长方法的研究现状 | 第12-24页 |
| ·国外研究现状 | 第13-18页 |
| ·国内研究现状 | 第18-24页 |
| ·模拟测量电路精度增长方法的研究内容及意义 | 第24-26页 |
| 第二章 模拟测量电路精度指标评价方法的研究 | 第26-36页 |
| ·模拟测量电路的系统噪声 | 第26-28页 |
| ·模拟测量电路的短期稳定性 | 第28-31页 |
| ·模拟测量电路的温度系数 | 第31页 |
| ·模拟测量电路的误差限 | 第31-33页 |
| ·模拟测量电路的线性度 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 模拟测量电路精度增长方法研究的实验平台 | 第36-48页 |
| ·电流测量电路 | 第36-37页 |
| ·基于GPIB-USB接口的数字万用表自动测试系统 | 第37-41页 |
| ·自动测试系统概述 | 第37-40页 |
| ·自动测试系统的实现 | 第40-41页 |
| ·基于USB接口的数据采集系统 | 第41-48页 |
| ·数据采集系统概述 | 第41-42页 |
| ·数据采集系统的实现 | 第42-47页 |
| ·数据采集系统在课题研究中的应用 | 第47-48页 |
| 第四章 模拟测量电路精度增长的基本方法 | 第48-66页 |
| ·选择合适的芯片及合理的电路设计 | 第48-54页 |
| ·选择合适的芯片 | 第49页 |
| ·合理的电路设计 | 第49-53页 |
| ·改进PCB版的设计 | 第53-54页 |
| ·利用多路融合技术降低系统噪声 | 第54-58页 |
| ·多路融合技术概述 | 第54-55页 |
| ·利用双通道采样降低系统噪声 | 第55-58页 |
| ·利用自校准设计提高测量电路的稳定性 | 第58-62页 |
| ·自校准原理 | 第58-59页 |
| ·自校准流程 | 第59-60页 |
| ·自校准实验 | 第60-62页 |
| ·利用电老化提高测量电路的稳定性 | 第62-65页 |
| ·老化概述 | 第62-63页 |
| ·利用电老化提高直流偏移的日稳定性 | 第63-65页 |
| ·利用元器件挑选提高电路精度 | 第65-66页 |
| 第五章 实现精度增长的新方法——元器件挑选 | 第66-88页 |
| ·元器件挑选方法概述 | 第66-67页 |
| ·测量电路中主要元器件的噪声分析 | 第67-73页 |
| ·运算放大器的噪声 | 第67-70页 |
| ·电压基准源的噪声 | 第70-71页 |
| ·A/D转换器的噪声 | 第71-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| ·测量电路中主要元器件的温度特性 | 第73-74页 |
| ·运放的温度特性 | 第73页 |
| ·A/D转换器的温度特性 | 第73页 |
| ·电压基准源的温度特性 | 第73-74页 |
| ·元器件测试电路 | 第74-80页 |
| ·A/D转换器测试电路 | 第74-77页 |
| ·运算放大器测试电路 | 第77-80页 |
| ·通过挑选元器件降低系统噪声 | 第80-82页 |
| ·A/D转换器芯片挑选测试环境 | 第80页 |
| ·A/D转换器芯片挑选过程及结果 | 第80-81页 |
| ·利用低噪声芯片降低系统噪声 | 第81-82页 |
| ·通过挑选元件减小测量电路的温度漂移 | 第82-88页 |
| ·运放失调电压温度漂移曲线测试 | 第82-83页 |
| ·A/D温度漂移测试 | 第83-85页 |
| ·综合测试结果 | 第85-88页 |
| 第六章 模拟测量电路的改进设计及实验 | 第88-92页 |
| ·电流模拟测量电路的改进 | 第88页 |
| ·模拟测量电路的精度提高效果 | 第88-92页 |
| ·系统噪声 | 第88-91页 |
| ·短期稳定性 | 第91页 |
| ·温度漂移 | 第91-92页 |
| 第七章 总结及展望 | 第92-94页 |
| ·研究总结 | 第92页 |
| ·展望 | 第92-94页 |
| 参考文献 | 第94-102页 |
| 攻读硕士学位期间所取得的科研成果 | 第102页 |