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TiO2薄膜的结构、特性及生长模式的研究

第一章 前言第1-26页
 1-1 光学薄膜研究发展现状第9-15页
     ·高功率激光膜第9-10页
     ·类金刚石及金刚石膜第10-11页
     ·软X射线多层膜第11-12页
     ·太阳能选择性吸收膜第12-13页
     ·光无源器件薄膜第13-15页
 1-2 薄膜的制备技术概述第15-20页
     ·蒸发沉积(Evaporation Deposite)第15-16页
     ·溅射沉积(Sputtering Deposite)第16-17页
     ·分子束外延(MBE)第17-18页
     ·脉冲激光沉积(PLD)第18-19页
     ·化学气相沉积(CVD)第19-20页
     ·溶胶-凝胶工艺(Sol-Gel)第20页
 1-3 氧化钛薄膜研究概述第20-25页
     ·TiO_2的晶格结构第20-23页
     ·氧化钛薄膜的制备技术第23页
     ·氧化钛薄膜的应用研究第23-25页
 1-4 课题的提出及研究内容第25-26页
第二章 试验条件及方法第26-44页
 2-1 试验仪器与设备第26-28页
     ·薄膜制备设备第26-27页
     ·检测设备第27-28页
     ·薄膜试样的准备第28页
 2-2 薄膜的表征方法第28-30页
     ·薄膜的成分检测第28-29页
     ·薄膜的显微组织结构第29页
     ·薄膜的物相分析第29页
     ·薄膜的光学性能第29-30页
     ·薄膜厚度的检测第30页
 2-3 薄膜光学常数的表征第30-41页
     ·公式推导第31-36页
     ·计算实例第36-38页
     ·吸收薄膜折射率和消光系数的确定第38-41页
 2-4 TiO_2薄膜制备工艺参数的确定第41-44页
     ·正交试验第41-42页
     ·结果及讨论第42-44页
第三章 TiO_2薄膜的结构和性能研究第44-75页
 3-1 沉积工艺条件对薄膜结构和性能的影响第44-49页
     ·基片温度对薄膜结构和性能的影响第44-48页
     ·真空度对薄膜结构和性能的影响第48-49页
     ·沉积速率对薄膜结构和性能的影响第49页
 3-2 热处理对薄膜成分、结构和性能的影响第49-74页
     ·薄膜中Ti和O化学状态的XPS研究第49-65页
     ·热处理对薄膜晶体结构的影响第65-69页
     ·热处理对薄膜光学性能的影响第69-72页
     ·薄膜的密度及空隙率第72-74页
 3-3 本章小结第74-75页
第四章 薄膜的成核生长及其结构模型第75-101页
 4-1 概述第75-79页
     ·唯象理论(VWBD理论)模型第75-76页
     ·原子理论模型第76-79页
     ·最新研究成果第79页
 4-2 薄膜结构的SEM和TEM研究第79-83页
     ·实验方法第79-80页
     ·实验结果及讨论第80-83页
 4-3 薄膜的成核及生长第83-97页
     ·薄膜成核生长的热力学第84-87页
     ·薄膜成核生长的动力学第87-95页
     ·薄膜的形成过程第95-97页
 4-4 TiO_2薄膜的结构模型第97-100页
 4-5 本章小结第100-101页
第五章 光学多层膜膜系优化设计第101-129页
 5-1 问题的提出第101-104页
 5-2 膜系设计的原理第104-110页
     ·数学模型的建立第104-105页
     ·评价函数的建立第105-108页
     ·评价函数的计算第108-110页
 5-3 优化设计方法及实现第110-127页
     ·膜系设计的发展第110-111页
     ·优化设计的方法及其算法实现第111-116页
     ·设计实例分析第116-127页
     ·膜系镀制结果第127页
 5-4 本章小结第127-129页
第六章 全文总结第129-131页
附录1第131-132页
参考文献第132-139页
博士期间发表的论文第139-140页
致谢第140页

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