基于EPP的场发射参数测量系统
| 第一章 绪论 | 第1-12页 |
| 1．1 研究场发射特性的重要性 | 第9页 |
| 1．2 数据采集技术的发展 | 第9-10页 |
| 1．3 本课题研究的任务 | 第10页 |
| 1．4 整体设计方案 | 第10-12页 |
| 第二章 数据采集 | 第12-23页 |
| 2．1 信号变换 | 第12页 |
| 2．1．1 电流信号的变换 | 第12页 |
| 2．1．2 电压信号的变换 | 第12页 |
| 2．2 信号放大 | 第12-15页 |
| 2．2．1 电流信号放大 | 第12-14页 |
| 2．2．2 电压信号放大 | 第14-15页 |
| 2．3 滤波器设计 | 第15-18页 |
| 2．3．1 同相滤波器的设计 | 第16-17页 |
| 2．3．2 反相滤波器的设计 | 第17-18页 |
| 2．4 采样与保持 | 第18-20页 |
| 2．4．1 AD582芯片介绍 | 第19页 |
| 2．4．2 AD582的应用 | 第19-20页 |
| 2．5 模数转换 | 第20-22页 |
| 2．5．1 AD574的性能特点 | 第20页 |
| 2．5．2 AD574的应用 | 第20-22页 |
| 2．5．3 基准电压源 | 第22页 |
| 2．6 小结 | 第22-23页 |
| 第三章 控制系统 | 第23-34页 |
| 3．1 89C51单片机介绍及其使用 | 第23-26页 |
| 3．1．1 89C51单片机的结构及功能 | 第23-24页 |
| 3．1．2 89C51的应用 | 第24-26页 |
| 3．2 82C55A可编程并行输入/输出接口芯片 | 第26-30页 |
| 3．2．1 82C55的工作方式选择 | 第26-28页 |
| 3．2．2 单片机和82C55A的连接 | 第28-30页 |
| 3．3 数据显示 | 第30页 |
| 3．4 量程控制 | 第30-33页 |
| 3．4．1 比较器电路 | 第30-32页 |
| 3．4．2 参考电源 | 第32页 |
| 3．4．3 中断处理程序 | 第32-33页 |
| 3．5 初始化开关选择 | 第33页 |
| 3．6 系统控制流程 | 第33页 |
| 3．7 小结 | 第33-34页 |
| 第四章 测量仪和计算机的通信接口 | 第34-42页 |
| 4．1 并行打印机接口及IEEE-1284标准 | 第34-35页 |
| 4．2 EPP模式 | 第35-39页 |
| 4．2．1 EPP信号的定义 | 第37页 |
| 4．2．2 EPP寄存器 | 第37-38页 |
| 4．2．3 EPP读写时序 | 第38-39页 |
| 4．3 测量仪和计算机的通信连接 | 第39-41页 |
| 4．4 单片机控制程序 | 第41页 |
| 4．5 小结 | 第41-42页 |
| 第五章 驱动程序 | 第42-54页 |
| 5．1 驱动程序的编写 | 第42-47页 |
| 5．1．1 VxD的框架结构生成 | 第43页 |
| 5．1．2 修改EPPPORT．H文件 | 第43-44页 |
| 5．1．3 修改EPPPORT．CPP文件 | 第44-47页 |
| 5．2 VxD和WiN32应用程序之间的通信 | 第47-51页 |
| 5．2．1 WiN32应用程序对VxD的通信 | 第47-49页 |
| 5．2．2 VxD对WiN32应用程序的通信 | 第49-51页 |
| 5．3 应用程序的编写 | 第51-53页 |
| 5．4 小结 | 第53-54页 |
| 第六章 数据处理 | 第54-59页 |
| 6．1 回归方程 | 第54-56页 |
| 6．2 误差模型 | 第56-57页 |
| 6．3 数据处理程序 | 第57-58页 |
| 6．4 小结 | 第58-59页 |
| 结束语 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 附录一 中断0的中断服务程序流程图 | 第63-65页 |
| 附录二 系统控制流程图 | 第65-66页 |
| 附录三 自动采样测试系统流程图 | 第66-67页 |
| 附录四 原理图 | 第67-72页 |
