PZT晶片敏感元分析及性能实验
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·PZT 晶片敏感元探测理论 | 第8-12页 |
| ·铁电体、热释电体、压电体和介电体及其之间的关系 | 第12-13页 |
| ·PZT 晶片敏感元探测器的国内外应用现状 | 第13-14页 |
| ·研究背景 | 第14-16页 |
| ·课题研究内容及主要工作 | 第16-18页 |
| 第二章 PZT 敏感元模型分析 | 第18-28页 |
| ·一维热传导理论和热释电响应 | 第18-19页 |
| ·一维热传导理论在简单敏感元模型中的应用 | 第19-20页 |
| ·二维模型的热扩散方程及其解 | 第20-23页 |
| ·仿真曲线 | 第23-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 PZT 敏感元结构、材料特性与封装分析 | 第28-40页 |
| ·热释电晶片材料 | 第28页 |
| ·能谱分析 | 第28-31页 |
| ·拉曼光谱分析 | 第31页 |
| ·PZT 晶片能谱和拉曼分析 | 第31-33页 |
| ·PZT 晶片敏感元的能谱和拉曼分析 | 第33-35页 |
| ·PZT 晶片敏感元的结构材料分析 | 第35-38页 |
| ·PZT 敏感元在探测器中的微集成封装分析 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 PZT 敏感元热释电系数测量方法 | 第40-44页 |
| ·几种热释电系数测量方法 | 第40-43页 |
| ·测量等效电路 | 第40-41页 |
| ·电压法 | 第41-42页 |
| ·电荷积分法 | 第42-43页 |
| ·电流法 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 PZT 敏感元性能动态测试实验 | 第44-53页 |
| ·动态热释电性能测试实验 | 第44-49页 |
| ·测试实验系统 | 第44-46页 |
| ·测试实验结果与分析 | 第46-49页 |
| ·噪声分析 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 PZT 敏感元在气体检测中的应用 | 第53-60页 |
| ·红外检测气体原理的概述 | 第53-55页 |
| ·红外气体传感器的主要部件 | 第55-57页 |
| ·红外气体检测器原理和结构示意图 | 第57-58页 |
| ·红外气体检测仪 | 第58-59页 |
| ·红外气体检测仪实验结果 | 第59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 总结与展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 研究生期间发表的论文及工作 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
