管材缺陷漏磁场特征分析及其检测方法研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-17页 |
·管道运输安全问题及应对措施 | 第8-9页 |
·管道缺陷无损检测 | 第9-13页 |
·无损检测方法简述 | 第10-11页 |
·管道缺陷内检测方法 | 第11-12页 |
·缺陷重构和磁光成像技术 | 第12-13页 |
·漏磁缺陷检测方法发展 | 第13-14页 |
·本课题的研究意义及主要内容 | 第14-17页 |
第二章 漏磁缺陷检测理论基础 | 第17-28页 |
·电磁场基本理论 | 第17-18页 |
·饱和磁化理论 | 第18-19页 |
·漏磁场方法原理 | 第19-20页 |
·缺陷漏磁分析方法 | 第20-23页 |
·缺陷漏磁场的磁偶极子模型 | 第20-22页 |
·缺陷漏磁场有限元数值求解 | 第22-23页 |
·探测器的霍尔效应 | 第23-24页 |
·磁光晶体的磁致旋光效应 | 第24-26页 |
·漏磁场方法结构分析 | 第26-27页 |
·漏磁场检测的工作流程 | 第26页 |
·漏磁场与缺陷间相互关系的建立方法 | 第26-27页 |
·小结 | 第27-28页 |
第三章 缺陷漏磁信号的有限元分析 | 第28-47页 |
·有限元分析方法基本思想 | 第28页 |
·Ansoft工程电磁场有限元分析 | 第28-30页 |
·Ansoft软件介绍 | 第28-29页 |
·Ansoft软件特点 | 第29页 |
·软件求解流程 | 第29-30页 |
·二维静磁场有限元分析理论 | 第30-33页 |
·磁矢势方程的导出 | 第30页 |
·闭合回路间磁链的关系 | 第30-31页 |
·电感矩阵的计算 | 第31-32页 |
·磁场力的计算 | 第32-33页 |
·数值求解模型建立 | 第33-35页 |
·典型裂纹缺陷漏磁场计算结果与分析 | 第35-39页 |
·饱和程度分析 | 第36-37页 |
·典型缺陷漏磁场分布曲线 | 第37-39页 |
·缺陷几何参量与漏磁场关系分析 | 第39-46页 |
·裂纹缺陷深度对漏磁场的影响 | 第39-42页 |
·矩形缺陷宽度对漏磁场的影响 | 第42-44页 |
·类腐蚀坑型缺陷曲率半径对漏磁场的影响 | 第44-46页 |
·小结 | 第46-47页 |
第四章 缺陷漏磁测量信号特征分析 | 第47-57页 |
·漏磁场检测实验系统方案 | 第47-51页 |
·励磁机构的搭建 | 第47-48页 |
·霍尔传感元件选型 | 第48-49页 |
·单片机数据采集实现 | 第49-50页 |
·信号采集过程 | 第50-51页 |
·缺陷漏磁信号单通道数据特征分析 | 第51-56页 |
·缺陷深度对漏磁信号的影响 | 第52-54页 |
·传感器提离高度对测量信号的影响 | 第54-56页 |
·小结 | 第56-57页 |
第五章 缺陷漏磁场平面图像 | 第57-76页 |
·虚拟仪器 | 第57-58页 |
·虚拟仪器思想 | 第57页 |
·虚拟仪器特点 | 第57-58页 |
·虚拟仪器系统的构成 | 第58-59页 |
·虚拟仪器系统的硬件构成 | 第58页 |
·虚拟仪器系统的软件设计 | 第58-59页 |
·LabVIEW软件简介 | 第59-60页 |
·多通道数据采集的实现 | 第60-65页 |
·数据采集卡功能 | 第60-61页 |
·数据采集卡的驱动方式 | 第61-62页 |
·模拟、数字信号转换 | 第62-64页 |
·多通道数据的分离读取 | 第64-65页 |
·传感器位置坐标的获取 | 第65-68页 |
·硬件系统间的串口通信协议 | 第65-66页 |
·步进电机控制指令和数据格式 | 第66页 |
·VISA串口通信控制 | 第66-68页 |
·漏磁场信号多通道数据平面成像 | 第68-72页 |
·多裂缝缺陷漏磁场平面图 | 第68-70页 |
·多孔缺陷漏磁场平面图 | 第70-72页 |
·漏磁场磁光成像 | 第72-75页 |
·磁光成像发展现状 | 第72页 |
·磁光成像过程 | 第72-74页 |
·成像结果比较 | 第74页 |
·磁光成像结果的解调 | 第74-75页 |
·小结 | 第75-76页 |
结论 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-84页 |
攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第84-85页 |
致谢 | 第85页 |