| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·航管二次雷达的发展概况及现状 | 第11-14页 |
| ·从传统的二次雷达到单脉冲二次雷达 | 第11-12页 |
| ·模式S 二次雷达的发展现状 | 第12-13页 |
| ·国内二次雷达的现状与展望 | 第13-14页 |
| ·本论文的选题依据 | 第14页 |
| ·本论文的研究内容及章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 二次雷达的系统原理 | 第16-27页 |
| ·二次雷达系统的工作原理 | 第16-21页 |
| ·系统构成与工作原理 | 第16页 |
| ·二次雷达的询问信号 | 第16-18页 |
| ·二次雷达的询问器 | 第18-21页 |
| ·询问模式 | 第18-19页 |
| ·模式交替 | 第19页 |
| ·询问周期 | 第19-20页 |
| ·模式发生器 | 第20页 |
| ·外部使用的触发脉冲 | 第20-21页 |
| ·二次雷达的应答信号 | 第21页 |
| ·模式S 二次雷达 | 第21-26页 |
| ·模式S 简介 | 第21-22页 |
| ·模式S 询问信号 | 第22-25页 |
| ·询问方式 | 第22-23页 |
| ·询问类型 | 第23-25页 |
| ·模式S 应答信号 | 第25页 |
| ·应答格式 | 第25页 |
| ·应答类型 | 第25页 |
| ·模式S 数据链 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 测试仪系统设计 | 第27-44页 |
| ·测试仪功能的要求与设计思想 | 第27-30页 |
| ·测试仪功能需求分析 | 第27-28页 |
| ·测试仪的性能指标 | 第28-29页 |
| ·测试仪系统设计原则 | 第29-30页 |
| ·测试仪设计方案 | 第30-32页 |
| ·测试仪的设计原理 | 第30-31页 |
| ·模块功能 | 第31-32页 |
| ·系统硬件架构 | 第32-33页 |
| ·硬件平台主要处理芯片选择 | 第33-43页 |
| ·A/D 模拟电路及芯片 | 第33-36页 |
| ·A/D 模拟电路 | 第33-34页 |
| ·A/D 转换芯片TLC5540 | 第34-36页 |
| ·A/D 模块硬件电路实现 | 第36页 |
| ·接口芯片介绍 | 第36-39页 |
| ·网络接口芯片 | 第36-37页 |
| ·串口芯片 | 第37-38页 |
| ·三态收发器芯片 | 第38-39页 |
| ·单片机芯片 | 第39-40页 |
| ·Xilinx 公司 XCV600E 芯片及配置芯片 | 第40-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 测试仪系统的实现 | 第44-67页 |
| ·硬件系统的实现 | 第44-47页 |
| ·总体实现框图 | 第44-45页 |
| ·关键参数的确定 | 第45-47页 |
| ·编码器同步信号S0 的产生依据 | 第45-46页 |
| ·询问时间、距离计算 | 第46-47页 |
| ·单片机模块 | 第47-50页 |
| ·实现功能 | 第47-48页 |
| ·设计流程 | 第48-49页 |
| ·外围电路实现 | 第49-50页 |
| ·FPGA 模块 | 第50-61页 |
| ·Xilinx FPGA 设计流程简介 | 第50-52页 |
| ·FPGA 顶层模块 | 第52-54页 |
| ·FPGA 顶层模块设计 | 第52-53页 |
| ·FPGA 输入、输出信号 | 第53-54页 |
| ·FPGA 子模块 | 第54-61页 |
| ·时钟产生模块 | 第54页 |
| ·异步FIFO 实现跨时钟域的同步设计 | 第54-55页 |
| ·常规模式询问信号编码 | 第55-56页 |
| ·模式S 询问信号编码 | 第56页 |
| ·点名询问中P6 位数据段编码 | 第56-60页 |
| ·基于Xilinx IPcore 的数据采集 | 第60-61页 |
| ·软件系统的实现 | 第61-66页 |
| ·人机交互界面 | 第61页 |
| ·控制界面设计 | 第61-64页 |
| ·显示界面设计 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 仿真与测试 | 第67-79页 |
| ·测试仪的使用方法 | 第67-68页 |
| ·测试仪各模块配置及使用 | 第68-70页 |
| ·控制界面的使用 | 第68-69页 |
| ·测试仪硬件系统的配置操作 | 第69-70页 |
| ·网络接口芯片IP 地址的配置 | 第69页 |
| ·单片机、FPGA 程序的加载 | 第69-70页 |
| ·模式询问信号、调制脉冲的仿真 | 第70-74页 |
| ·询问周期与S0 同步触发信号的关系 | 第70-71页 |
| ·常规模式询问信号及周期化 | 第71页 |
| ·常规模式交替询问信号 | 第71-72页 |
| ·模式S 询问信号 | 第72-74页 |
| ·测试结果与分析 | 第74-78页 |
| ·测试理论 | 第74-76页 |
| ·结果分析 | 第76-78页 |
| ·硬件实物图 | 第78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| ·本论文总结 | 第79页 |
| ·论文特点及创新 | 第79-80页 |
| ·不足与展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 附录1 | 第85-86页 |
| 附录2 | 第86-87页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第87-88页 |