| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第1章 引言 | 第18-34页 |
| 1.1 课题的背景和研究意义 | 第18-19页 |
| 1.2 ATP技术发展概述 | 第19-28页 |
| 1.2.1 SILEX计划 | 第20-22页 |
| 1.2.2 ETS-VI计划和OICETS计划 | 第22-24页 |
| 1.2.3 LLCD计划 | 第24-26页 |
| 1.2.4 其他相关技术 | 第26-28页 |
| 1.3 空间量子通信发展对ATP系统的需求 | 第28-31页 |
| 1.3.1 空间量子通信的发展趋势 | 第28-29页 |
| 1.3.2 空间量子通信的链路效率 | 第29-31页 |
| 1.4 论文研究内容 | 第31-33页 |
| 1.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第2章 空间量子通信终端跟瞄系统概述 | 第34-50页 |
| 2.1 ATP系统的工作原理 | 第34-37页 |
| 2.1.1 工作流程 | 第34-35页 |
| 2.1.2 系统构成 | 第35-36页 |
| 2.1.3 高精度的瞄准方案 | 第36-37页 |
| 2.2 系统参数分析 | 第37-41页 |
| 2.2.1 外部输入参数 | 第38页 |
| 2.2.2 粗跟踪参数 | 第38-39页 |
| 2.2.3 精跟踪参数 | 第39-40页 |
| 2.2.4 其他参数 | 第40-41页 |
| 2.3 精跟踪系统介绍 | 第41-47页 |
| 2.3.1 系统组成 | 第41-45页 |
| 2.3.2 控制原理 | 第45-47页 |
| 2.4 空间ATP系统设计案例 | 第47-49页 |
| 2.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第3章 衍射斑采样的探测体制研究 | 第50-70页 |
| 3.1 ATP系统跟瞄误差分析 | 第50-54页 |
| 3.1.1 跟瞄误差源分析 | 第50-53页 |
| 3.1.2 跟瞄误差数理模型 | 第53-54页 |
| 3.2 衍射受限的光学系统建模 | 第54-56页 |
| 3.3 衍射斑采样的探测误差分析 | 第56-60页 |
| 3.3.1 基于衍射斑的光轴对准 | 第56-57页 |
| 3.3.2 探测误差空域分析 | 第57-58页 |
| 3.3.3 探测误差频域分析 | 第58-60页 |
| 3.4 基于衍射斑采样理论的探测系统优化 | 第60-67页 |
| 3.4.1 衍射斑采样的探测误差抑制 | 第60-61页 |
| 3.4.2 探测误差抑制实施方案 | 第61-64页 |
| 3.4.3 探测误差抑制实验及分析 | 第64-67页 |
| 3.5 本章小结 | 第67-70页 |
| 第4章 光学系统的像差影响分析 | 第70-94页 |
| 4.1 光学系统像差分析 | 第70-74页 |
| 4.1.1 像差理论 | 第70-71页 |
| 4.1.2 Zernike多项式 | 第71-73页 |
| 4.1.3 光学像差的定量表征 | 第73-74页 |
| 4.2 同轴光学系统的像差影响概述 | 第74-77页 |
| 4.3 离轴光学系统像差特性分析 | 第77-84页 |
| 4.3.1 空间量子通信与离轴光学系统 | 第77-79页 |
| 4.3.2 光瞳变换矩阵 | 第79-81页 |
| 4.3.3 空间ATP系统的接收光轴和发射光轴 | 第81-84页 |
| 4.4 离轴光学系统像差对收发光轴的影响 | 第84-93页 |
| 4.4.1 光学像差对接收光轴的影响 | 第84-89页 |
| 4.4.2 光学像差对发射光轴的影响 | 第89-93页 |
| 4.5 本章小结 | 第93-94页 |
| 第5章 面阵探测器非理想特性影响分析 | 第94-124页 |
| 5.1 CMOS探测器非理想特性影响概述 | 第94-97页 |
| 5.1.1 探测器关键特性参数 | 第94-96页 |
| 5.1.2 非理想特性的影响 | 第96-97页 |
| 5.2 探测器非理想特性仿真分析 | 第97-102页 |
| 5.2.1 数理模型建立 | 第97-98页 |
| 5.2.2 仿真分析 | 第98-102页 |
| 5.3 条状噪声对精跟踪的影响 | 第102-114页 |
| 5.3.1 条状噪声的来源 | 第102-104页 |
| 5.3.2 条状噪声对质心算法的影响 | 第104-107页 |
| 5.3.3 仿真分析 | 第107-111页 |
| 5.3.4 实验分析 | 第111-114页 |
| 5.4 探测器响应非均匀性校正 | 第114-122页 |
| 5.4.1 探测器非均匀性评价指标 | 第114-115页 |
| 5.4.2 非均匀性校正原理 | 第115-116页 |
| 5.4.3 探测器响应曲线测定 | 第116-121页 |
| 5.4.4 实验分析 | 第121-122页 |
| 5.5 本章小结 | 第122-124页 |
| 第6章 控制分辨率对跟踪的影响及实现 | 第124-138页 |
| 6.1 精跟踪控制算法 | 第124-127页 |
| 6.1.1 增量式数字PID控制算法 | 第125-126页 |
| 6.1.2 控制参数整定 | 第126-127页 |
| 6.2 控制系统MATLAB/simulink仿真分析 | 第127-132页 |
| 6.2.1 控制系统simulink模型建立 | 第127-129页 |
| 6.2.2 仿真分析 | 第129-132页 |
| 6.3 实验测试 | 第132-136页 |
| 6.4 理论分析 | 第136-137页 |
| 6.5 本章小结 | 第137-138页 |
| 第7章 总结与展望 | 第138-142页 |
| 参考文献 | 第142-150页 |
| 致谢 | 第150-152页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第152-153页 |