| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 红外探测技术概述 | 第9-12页 |
| 1.1.1 红外探测技术的分类和发展 | 第10-12页 |
| 1.1.2 光导红外探测器的原理及应用 | 第12页 |
| 1.2 红外探测器的非均匀性与其校正方法的发展现状 | 第12-18页 |
| 1.2.1 非均匀性的定义 | 第13页 |
| 1.2.2 非均匀性的来源和分类 | 第13-15页 |
| 1.2.3 光导探测器的非均匀性研究现状 | 第15-18页 |
| 1.3 论文研究的难点和目的意义 | 第18-21页 |
| 第2章 红外探测器读出电路设计分析 | 第21-27页 |
| 2.1 读出电路设计的主要基础 | 第21-24页 |
| 2.1.1 CMOS技术 | 第21-22页 |
| 2.1.2 读出电路的设计方法和流程 | 第22-23页 |
| 2.1.3 读出电路的性能指标 | 第23-24页 |
| 2.2 读出电路常用前端结构 | 第24-26页 |
| 2.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 长波光导探测器非均匀性校正读出电路前端设计分析 | 第27-53页 |
| 3.1 设计要求和技术途径 | 第27页 |
| 3.1.1 设计要求 | 第27页 |
| 3.1.2 技术途径 | 第27页 |
| 3.2 整体电路结构框架 | 第27-29页 |
| 3.3 比较器模块的设计 | 第29-36页 |
| 3.3.1 比较器设计指标与分类 | 第29-32页 |
| 3.3.2 具体设计与仿真 | 第32-36页 |
| 3.4 计数器模块的设计 | 第36-44页 |
| 3.4.1 数字电路设计基础 | 第36-38页 |
| 3.4.2 计数器的具体设计流程 | 第38-44页 |
| 3.5 电阻结构的设计 | 第44-47页 |
| 3.5.1 常用的DAC结构 | 第44-46页 |
| 3.5.2 DAC设计指标 | 第46页 |
| 3.5.3 电阻网络结构的设计 | 第46-47页 |
| 3.6 RTIA差分放大电路 | 第47-49页 |
| 3.7 单元电路的仿真 | 第49-51页 |
| 3.8 本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 线列读出电路的后端设计 | 第53-59页 |
| 4.1 版图可靠性设计 | 第53-54页 |
| 4.2 具体版图设计过程 | 第54-58页 |
| 4.2.1 版图规划布局 | 第54页 |
| 4.2.2 模拟电路版图设计 | 第54-55页 |
| 4.2.3 数字电路版图设计 | 第55-57页 |
| 4.2.4 版图的验证与流片 | 第57-58页 |
| 4.2.5 最终版图结构 | 第58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 电路的仿真测试与分析 | 第59-71页 |
| 5.1 电路的仿真分析 | 第59-61页 |
| 5.1.1 非均匀性校正仿真 | 第59-61页 |
| 5.1.2 读出电路噪声仿真 | 第61页 |
| 5.2 芯片测试说明 | 第61-63页 |
| 5.3 测试方案与平台 | 第63-64页 |
| 5.4 测试过程与要求 | 第64-65页 |
| 5.5 测试结果与分析 | 第65-68页 |
| 5.6 非均匀性校正电路的改进 | 第68-71页 |
| 第6章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第78页 |