| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-20页 |
| 1.2.1 绝缘材料表面电荷动态特性研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 绝缘材料表面改性研究现状 | 第13-16页 |
| 1.2.3 低温等离子体表面改性研究现状 | 第16-17页 |
| 1.2.4 中国科学院电工研究所研究现状 | 第17-20页 |
| 1.3 本文主要工作内容 | 第20-21页 |
| 第2章 实验装置与测量系统 | 第21-28页 |
| 2.1 实验装置介绍 | 第21-24页 |
| 2.1.1 纳秒脉冲电源 | 第21页 |
| 2.1.2 辉光放电改性实验系统 | 第21-22页 |
| 2.1.3 射流及射流阵列改性实验系统 | 第22-24页 |
| 2.2 实验测量系统 | 第24-27页 |
| 2.2.1 光学特性测量 | 第24页 |
| 2.2.2 物理化学特性测量 | 第24-25页 |
| 2.2.3 电学特性测量 | 第25-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 次大气压辉光放电直接改性环氧树脂 | 第28-41页 |
| 3.1 材料选取与放电条件 | 第28-30页 |
| 3.1.1 实验数据处理方法 | 第28-29页 |
| 3.1.2 样品选取与放电条件 | 第29-30页 |
| 3.2 辉光放电表面处理及其特性表征 | 第30-38页 |
| 3.2.1 辉光放电对物理特性的影响 | 第30-31页 |
| 3.2.2 辉光放电对化学特性的影响 | 第31-34页 |
| 3.2.3 辉光放电对电学特性的影响 | 第34-36页 |
| 3.2.4 老化现象 | 第36-38页 |
| 3.3 辉光放电对环氧树脂表面电荷影响机理分析 | 第38-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 射流及射流阵列沉积薄膜改性环氧树脂 | 第41-73页 |
| 4.1 改性处理实验参数 | 第41-42页 |
| 4.2 射流改性实验及其特征表征 | 第42-57页 |
| 4.2.1 射流改性条件及优化 | 第42-44页 |
| 4.2.2 射流改性对物理特性的影响 | 第44-46页 |
| 4.2.3 射流改性对化学特性的影响 | 第46-51页 |
| 4.2.4 射流改性对电学特性的影响 | 第51-56页 |
| 4.2.5 老化现象 | 第56-57页 |
| 4.3 射流阵列改性实验及其特征表征 | 第57-66页 |
| 4.3.1 射流阵列改性条件 | 第58页 |
| 4.3.2 射流阵列改性对物理特性的影响 | 第58-61页 |
| 4.3.3 射流阵列改性对化学特性的影响 | 第61-62页 |
| 4.3.4 射流阵列改性对电学特性的影响 | 第62-66页 |
| 4.4 沉积薄膜对环氧树脂表面电荷影响机理分析 | 第66-68页 |
| 4.5 低温等离子体改性环氧树脂加快表面电荷消散方法对比 | 第68-71页 |
| 4.6 本章小结 | 第71-73页 |
| 第5章 改性前后表面电荷分布对沿面闪络影响 | 第73-91页 |
| 5.1 脉冲电源参数对表面电荷的影响 | 第73-80页 |
| 5.1.1 脉冲频率和个数对表面电荷的影响 | 第73-75页 |
| 5.1.2 脉冲上升沿、宽度和下降沿对表面电荷的影响 | 第75-79页 |
| 5.1.3 脉冲电压幅值对表面电荷的影响 | 第79-80页 |
| 5.2 电源类型对表面电荷影响 | 第80-84页 |
| 5.2.1 直流电晕与脉冲电晕下表面电荷积聚对比 | 第80-83页 |
| 5.2.2 直流电晕与脉冲电晕下表面电荷消散对比 | 第83-84页 |
| 5.3 聚合物表面带电对直流闪络特性的影响 | 第84-90页 |
| 5.3.1 电晕强度、充电时间和电晕极性对沿面闪络的影响 | 第84-87页 |
| 5.3.2 电荷消散时间对沿面闪络的影响 | 第87-88页 |
| 5.3.3 表面电荷对沿面闪络的影响机理分析 | 第88-90页 |
| 5.4 本章小结 | 第90-91页 |
| 第6章 结论与展望 | 第91-93页 |
| 6.1 主要结论 | 第91-92页 |
| 6.2 工作展望 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-100页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文专利 | 第100-101页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第101-102页 |
| 致谢 | 第102页 |
