耐电晕试验电路关键技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 课题的研究现状及意义 | 第12-15页 |
| 1.3 课题的主要研究工作 | 第15-17页 |
| 第二章 耐电晕测试的机理分析及电路设计要求 | 第17-25页 |
| 2.1 漆包线耐电晕测试 | 第17-22页 |
| 2.1.1 漆包线破坏机理 | 第17-18页 |
| 2.1.2 漆包线耐电晕测试原理 | 第18-20页 |
| 2.1.3 脉冲要求分析 | 第20-21页 |
| 2.1.4 负载特性分析 | 第21-22页 |
| 2.2 电路总体设计方案 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 耐电晕试验主电路分析与设计 | 第25-40页 |
| 3.1 H桥 | 第25-27页 |
| 3.1.1 H桥构成和工作原理 | 第25-26页 |
| 3.1.2 H桥实现 | 第26-27页 |
| 3.2 IGBT | 第27-34页 |
| 3.2.1 IGBT构成和工作原理 | 第27-28页 |
| 3.2.2 IGBT工作特性 | 第28-31页 |
| 3.2.3 IGBT失效分析 | 第31-32页 |
| 3.2.4 IGBT安全工作区 | 第32-34页 |
| 3.3 耐电晕试验主电路分析与设计 | 第34-39页 |
| 3.3.1 容性负载充放电分析 | 第34-36页 |
| 3.3.2 主电路参数计算 | 第36-37页 |
| 3.3.3 IGBT的参数要求 | 第37页 |
| 3.3.4 耐电晕试验主电路设计与仿真 | 第37-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 隔离驱动电路分析与设计 | 第40-50页 |
| 4.1 驱动设计 | 第40-44页 |
| 4.1.1 栅极驱动电阻 | 第41页 |
| 4.1.2 栅极电容 | 第41页 |
| 4.1.3 栅极电压 | 第41-42页 |
| 4.1.4 驱动功率、栅极电流的估算 | 第42-43页 |
| 4.1.5 栅极驱动充放电分析 | 第43-44页 |
| 4.2 隔离设计 | 第44-47页 |
| 4.2.1 隔离电路分类 | 第44-46页 |
| 4.2.2 隔离驱动电路耦合分析 | 第46-47页 |
| 4.3 隔离驱动电路设计 | 第47页 |
| 4.4 驱动电路板布局和抗干扰设计 | 第47-49页 |
| 4.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 保护电路分析与设计 | 第50-55页 |
| 5.1 栅极过电压保护电路 | 第50-52页 |
| 5.2 瞬态dv/dt保护电路 | 第52-54页 |
| 5.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 耐电晕试验电路验证 | 第55-59页 |
| 6.1 实验方案 | 第55页 |
| 6.2 实验测试 | 第55-56页 |
| 6.3 实验结果 | 第56-58页 |
| 6.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 总结与展望 | 第59-61页 |
| 总结 | 第59-60页 |
| 创新点 | 第60页 |
| 展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附录A (攻读学位期间发表的论文) | 第66页 |
