单光子时间分辨成像光谱仪控制软件系统的研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第14-16页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第14页 |
| 1.1.2 课题背景 | 第14-15页 |
| 1.1.3 课题意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3 压缩感知与DMD | 第18-20页 |
| 1.3.1 压缩感知理论 | 第18页 |
| 1.3.2 测量矩阵与DMD | 第18-20页 |
| 1.4 论文内容和结构 | 第20-22页 |
| 第2章 光谱仪软件系统需求分析 | 第22-34页 |
| 2.1 环境需求 | 第22页 |
| 2.2 功能需求 | 第22-25页 |
| 2.3 外部接口需求 | 第25-31页 |
| 2.3.1 正交DMD驱动控制接口 | 第28页 |
| 2.3.2 DMD同步控制接口 | 第28-29页 |
| 2.3.3 菱形DMD驱动控制接口 | 第29-30页 |
| 2.3.4 计数器接口 | 第30页 |
| 2.3.5 时间测量接口 | 第30-31页 |
| 2.3.6 其他接口 | 第31页 |
| 2.4 数据库需求 | 第31页 |
| 2.5 性能与可靠性需求 | 第31-32页 |
| 2.6 本章小结 | 第32-34页 |
| 第3章 功能模块设计 | 第34-60页 |
| 3.1 系统架构与开发模型 | 第34-36页 |
| 3.1.1 系统架构 | 第34-35页 |
| 3.1.2 开发模型 | 第35-36页 |
| 3.2 计数器模块 | 第36-38页 |
| 3.2.1 功能描述 | 第36-37页 |
| 3.2.2 硬件电路设计原理 | 第37页 |
| 3.2.3 操作流程 | 第37-38页 |
| 3.3 同步控制模块 | 第38-40页 |
| 3.3.1 功能描述 | 第38-39页 |
| 3.3.2 操作流程 | 第39-40页 |
| 3.4 正交DMD模块 | 第40-44页 |
| 3.4.1 功能描述 | 第40-42页 |
| 3.4.2 系统结构图 | 第42-43页 |
| 3.4.3 操作流程 | 第43-44页 |
| 3.5 菱形DMD模块 | 第44-50页 |
| 3.5.1 功能描述 | 第44-46页 |
| 3.5.2 系统结构图 | 第46页 |
| 3.5.3 DMD显示矩阵的转换及合成 | 第46-48页 |
| 3.5.4 操作流程 | 第48-50页 |
| 3.6 时间测量模块 | 第50-55页 |
| 3.6.1 功能描述 | 第50-52页 |
| 3.6.2 系统结构 | 第52-53页 |
| 3.6.3 接口协议 | 第53-55页 |
| 3.6.4 软件设计 | 第55页 |
| 3.7 图像重建模块 | 第55-59页 |
| 3.7.1 图像重建理论 | 第55-57页 |
| 3.7.2 TVAL3算法改进与仿真 | 第57-59页 |
| 3.8 本章小结 | 第59-60页 |
| 第4章 工作模式设计 | 第60-66页 |
| 4.1 工作模式简述 | 第60-61页 |
| 4.2 成像模式 | 第61-62页 |
| 4.3 光谱成像模式 | 第62-63页 |
| 4.4 时间分辨光谱成像模式 | 第63-64页 |
| 4.5 其他模式 | 第64-65页 |
| 4.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第5章 结果测试与分析 | 第66-78页 |
| 5.1 测试环境 | 第66-68页 |
| 5.1.1 硬件测试环境 | 第66-68页 |
| 5.1.2 软件测试环境 | 第68页 |
| 5.2 界面展示 | 第68-72页 |
| 5.3 模块测试 | 第72-73页 |
| 5.4 测量结果验证 | 第73-75页 |
| 5.5 可靠性测试 | 第75页 |
| 5.6 性能指标 | 第75-77页 |
| 5.7 本章小结 | 第77-78页 |
| 第6章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 6.1 工作总结 | 第78-79页 |
| 6.2 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第86页 |
