| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-11页 |
| 1.1.1 高温合金的分类 | 第8页 |
| 1.1.2 铸造高温合金 | 第8-9页 |
| 1.1.3 镍基高温合金 | 第9页 |
| 1.1.4 单晶高温合金的发展历程 | 第9-10页 |
| 1.1.5 DD6单晶合金 | 第10-11页 |
| 1.2 成分分析方法概述 | 第11-14页 |
| 1.2.1 化学分析法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 仪器分析法 | 第12-14页 |
| 1.3 XRF分析技术发展及应用 | 第14-15页 |
| 1.3.1 XRF分析技术的进展 | 第14页 |
| 1.3.2 XRF的应用 | 第14-15页 |
| 1.4 立项的必要性 | 第15-16页 |
| 1.5 课题的主要研究内容及创新点 | 第16页 |
| 1.5.1 课题的主要研究内容 | 第16页 |
| 1.5.2 本课题的创新点 | 第16页 |
| 本章小结 | 第16-18页 |
| 第二章 XRF光谱分析应用理论基础 | 第18-22页 |
| 2.1 X射线荧光光谱分析的物理基础 | 第18-19页 |
| 2.1.1 X射线 | 第18页 |
| 2.1.2 X射线光谱 | 第18-19页 |
| 2.1.3 X射线的散射与吸收 | 第19页 |
| 2.2 X射线荧光光谱分析的基本原理 | 第19-20页 |
| 2.2.1 莫塞莱定律 | 第19-20页 |
| 2.2.2 布拉格方程 | 第20页 |
| 2.3 X射线荧光光谱仪结构原理及分类 | 第20-21页 |
| 2.3.1 X射线荧光光谱仪的结构原理 | 第20页 |
| 2.3.2 X射线荧光光谱仪的分类 | 第20-21页 |
| 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 实验方案的设计与研究 | 第22-33页 |
| 3.1 定量分析的步骤 | 第22页 |
| 3.2 标准样品的设置 | 第22-23页 |
| 3.3 控制试样的制备及定值 | 第23页 |
| 3.4 样品的制备 | 第23-24页 |
| 3.4.1 样品的表面处理 | 第24页 |
| 3.4.2 控制样品的要求 | 第24页 |
| 3.5 元素定量分析测量条件的选择 | 第24-31页 |
| 3.5.1 激发系统的选择 | 第25-27页 |
| 3.5.2 色散系统的选择 | 第27-29页 |
| 3.5.3 检测系统的选择 | 第29-31页 |
| 3.6 小结 | 第31-33页 |
| 第四章 回归工作曲线分析 | 第33-42页 |
| 4.1 引言 | 第33页 |
| 4.2 谱线干扰校正 | 第33-36页 |
| 4.2.1 谱线重叠干扰 | 第33-34页 |
| 4.2.2 背景的扣除 | 第34-36页 |
| 4.3 基体效应校正 | 第36-37页 |
| 4.3.1 基体效应 | 第36页 |
| 4.3.2 基体效应的校正 | 第36-37页 |
| 4.4 回归工作曲线的绘制 | 第37-40页 |
| 4.5 回归结果评价 | 第40页 |
| 本章小结 | 第40-42页 |
| 第五章 实验数据分析 | 第42-49页 |
| 5.1 精密度试验 | 第42-43页 |
| 5.2 不同分析方法结果比对 | 第43-48页 |
| 5.2.1 格拉布斯（Grubbs）检验法—异常值检验 | 第43-44页 |
| 5.2.2 F检验法—两种分析方法的精密度评估 | 第44页 |
| 5.2.3 t分布检验法—两组分析方法平均值的比较 | 第44-48页 |
| 本章小结 | 第48-49页 |
| 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |