机电产品设计缺陷形成机理及控制体系研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第1章 引言 | 第7-21页 |
| ·论文的选题背景及意义 | 第7-8页 |
| ·产品的设计开发 | 第8-13页 |
| ·对设计开发的理解 | 第8-9页 |
| ·主要的设计开发活动 | 第9页 |
| ·设计开发的组织模式 | 第9-12页 |
| ·机电产品的设计开发 | 第12-13页 |
| ·设计质量控制理论 | 第13-19页 |
| ·影响设计质量的因素 | 第14-15页 |
| ·设计质量控制的相关技术与方法 | 第15-17页 |
| ·设计质量控制模型 | 第17-19页 |
| ·本文研究内容 | 第19-21页 |
| 第2章 基于进程冲突的并行设计周期最小化模型 | 第21-29页 |
| ·设计周期 | 第21-22页 |
| ·设计进程冲突 | 第22-23页 |
| ·设计进程的执行顺序及设计周期的算法 | 第23-25页 |
| ·设计进程的分解原则 | 第25页 |
| ·实例建模分析 | 第25-28页 |
| 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 产品设计缺陷形成机理及预防体系 | 第29-35页 |
| ·设计缺陷 | 第29-30页 |
| ·设计缺陷的形成机理 | 第30-31页 |
| ·设计缺陷预防体系 | 第31-34页 |
| 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 基于并行设计的产品设计缺陷控制模型 | 第35-45页 |
| ·并行设计中的缺陷因素 | 第35-36页 |
| ·设计缺陷控制模型 | 第36-44页 |
| ·风险评估程序 | 第37-42页 |
| ·设计缺陷控制程序 | 第42-44页 |
| 本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 产品设计缺陷的解决方案 | 第45-52页 |
| ·设计缺陷的识别 | 第45-47页 |
| ·缺陷因素重要度评估 | 第47-49页 |
| ·设计缺陷解决模型 | 第49-51页 |
| 本章小结 | 第51-52页 |
| 第6章 设计缺陷控制体系及应用分析 | 第52-58页 |
| ·设计缺陷控制体系 | 第52-53页 |
| ·UPS电源外壳的开发过程 | 第53-57页 |
| ·外壳的串行设计 | 第54-55页 |
| ·外壳的并行设计 | 第55-57页 |
| ·设计缺陷控制体系应用结果分析 | 第57页 |
| 本章小结 | 第57-58页 |
| 第7章 结论与展望 | 第58-60页 |
| ·结论 | 第58页 |
| ·展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第64页 |
