| Abstract | 第4页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Table of Contents | 第7-9页 |
| Chapter 1 Introduction | 第9-16页 |
| 1.1 The research purpose and significance | 第9-10页 |
| 1.2 Overview of atomic force microscope (AFM) cell imaging | 第10-15页 |
| 1.2.1 Cell imaging by Conventional AFM | 第10-13页 |
| 1.2.2 Cell imaging by tuning fork based AFM (TF-AFM or FAFM) | 第13-15页 |
| 1.2.3 Topic source | 第15页 |
| 1.3 The main contents of research | 第15页 |
| 1.4 Summary | 第15-16页 |
| Chapter 2 Quartz Tuning Fork Force Sensor | 第16-33页 |
| 2.1 Quartz Tuning Fork (QTF) | 第16-19页 |
| 2.2 Electrical and Mechanical properties of QTF | 第19-22页 |
| 2.2.1 Electrical properties | 第19-20页 |
| 2.2.2 Mechanical properties | 第20-22页 |
| 2.3 Quartz Tuning Fork Force Sensor (QTFs) | 第22-32页 |
| 2.3.1 Configurations of tuning fork probes (force sensor) | 第23-24页 |
| 2.3.2 Tip fabrication | 第24-25页 |
| 2.3.3 Preparation of Quartz Tuning Fork Force Sensor (QTFs) | 第25-28页 |
| 2.3.4 Sensor performance in liquid environment | 第28-32页 |
| 2.4 Summary | 第32-33页 |
| Chapter 3 Atomic Force Microscope with Quartz Tuning Fork Sensor (TF-AFM) | 第33-40页 |
| 3.1 Introduction | 第33页 |
| 3.2 Dynamic force detection by QTFs and tip-sample distance control | 第33-35页 |
| 3.3 Experimental setup | 第35-39页 |
| 3.3.1 Instrumentation | 第35-37页 |
| 3.3.2 Phase locked loop (PLL) | 第37-39页 |
| 3.4 Summary | 第39-40页 |
| Chapter 4 Cell Imaging With TF-AFM | 第40-45页 |
| 4.1 Introduction | 第40页 |
| 4.2 Materials and methods | 第40-42页 |
| 4.2.1 Equipment for cell culturing | 第40-41页 |
| 4.2.2 Cell culture cultivation and preparation of experimental sample | 第41-42页 |
| 4.3 Experiments | 第42页 |
| 4.3.1 Cell imaging in liquid | 第42页 |
| 4.4 Results and discussion | 第42-44页 |
| 4.5 Summary | 第44-45页 |
| Conclusion | 第45-46页 |
| Bibliography | 第46-54页 |
| Publications | 第54-56页 |
| Acknowledgment | 第56-57页 |
| Appendixes | 第57-59页 |
