| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题来源 | 第9页 |
| 1.2 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| 1.3 本课题国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.4 论文主要内容 | 第12-14页 |
| 第二章 导电环测试分析及跑合控制系统总体设计 | 第14-21页 |
| 2.1 系统的整体结构框架 | 第14-16页 |
| 2.2 系统的功能要求 | 第16-17页 |
| 2.3 系统的关键部件分析与选型 | 第17-20页 |
| 2.3.1 高低温试验箱分析与选型 | 第17页 |
| 2.3.2 导电环电压电流加载设备分析与选型 | 第17-18页 |
| 2.3.3 驱动机构设备的分析与选型 | 第18页 |
| 2.3.4 摩擦力矩检测传感器分析与选型 | 第18-19页 |
| 2.3.5 温度传感器分析与选型 | 第19页 |
| 2.3.6 元器件选型小结 | 第19-20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 导电环测试分析及跑合控制系统硬件设计与实现 | 第21-30页 |
| 3.1 系统的硬件组成与研制 | 第21-27页 |
| 3.1.1 导电环跑合旋转机构的研制 | 第21-23页 |
| 3.1.2 伺服电机驱动控制模块的研制 | 第23-25页 |
| 3.1.3 信号采集模块的研制 | 第25页 |
| 3.1.4 系统供电模块的研制 | 第25-26页 |
| 3.1.5 电流与电压源加载模块的研制 | 第26-27页 |
| 3.2 系统的接口设计 | 第27页 |
| 3.3 系统硬件的电磁兼容性与安全性设计 | 第27-29页 |
| 3.4 系统的使用性与可维修性设计 | 第29页 |
| 3.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 导电环测试分析及跑合控制系统 | 第30-52页 |
| 4.1 系统的跑合控制原理 | 第30-31页 |
| 4.2 跑合控制算法设计与实现 | 第31-45页 |
| 4.2.1 常规 PID 控制器算法简介 | 第31-35页 |
| 4.2.2 经典 PID 控制器算法的局限性 | 第35-37页 |
| 4.2.3 速度前馈加速度前馈 PID 伺服控制算法设计及其实现 | 第37-43页 |
| 4.2.4 两种控制算法比较 | 第43-45页 |
| 4.3 NTC 热敏电阻 R-T 曲线拟合算法设计与实现 | 第45-51页 |
| 4.3.1 NTC 热敏电阻及其工作原理 | 第45-46页 |
| 4.3.2 传统 R-T 曲线拟合方法 | 第46-47页 |
| 4.3.3 分段切比雪夫多项式拟合 R-T 曲线算法设计与实现 | 第47-50页 |
| 4.3.4 曲线拟合结果分析 | 第50-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 导电环测试分析及跑合控制系统软件设计与实现 | 第52-69页 |
| 5.1 系统嵌入式计算机软件总体结构设计 | 第52-54页 |
| 5.2 功能模块详细设计与实现 | 第54-61页 |
| 5.2.1 跑合操作控制模块 | 第54-55页 |
| 5.2.2 数据采集模块 | 第55-56页 |
| 5.2.3 数据处理与显示模块 | 第56-59页 |
| 5.2.4 自动化测试跑合模块 | 第59-61页 |
| 5.2.5 历史数据及曲线显示功能 | 第61页 |
| 5.3 数据库设计与实现 | 第61-64页 |
| 5.4 软件的安全性设计 | 第64-65页 |
| 5.5 系统测试 | 第65-68页 |
| 5.5.1 单元测试 | 第65-67页 |
| 5.5.2 集成测试 | 第67-68页 |
| 5.6 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
