首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--基本电子电路论文--脉冲技术、脉冲电路论文--触发器论文

抗SET触发器设计及故障注入工具开发

摘要第4-5页
Abstract第5页
目录第6-8页
第1章 绪论第8-16页
    1.1 课题背景及研究的目的和意义第8-10页
    1.2 国内外研究现状第10-14页
        1.2.1 抗 SEE 加固技术研究现状第10-13页
        1.2.2 故障注入研究现状第13-14页
    1.3 课题研究内容第14-15页
    1.4 论文结构第15-16页
第2章 抗 SET 加固技术的研究第16-23页
    2.1 SET 作用机理第16-17页
    2.2 抗 SET 触发器设计第17-22页
        2.2.1 IDSDFF 结构和原理第17-19页
        2.2.2 LSM 结构和原理第19-20页
        2.2.3 IDSDFF 的仿真结果和相关参数分析第20-22页
    2.3 本章小结第22-23页
第3章 故障注入工具设计第23-40页
    3.1 故障注入概念及原理第23-24页
        3.1.1 故障模型第23-24页
        3.1.2 故障注入流程第24页
    3.2 FITBS 设计第24-37页
        3.2.1 FITBS 设计要求第24-25页
        3.2.2 FITBS 系统架构第25-26页
        3.2.3 Verilog 词法分析器设计第26-32页
        3.2.4 文件及相关参数输入和初始数据采集第32-33页
        3.2.5 故障注入执行脚本 TCL 接口分析第33-34页
        3.2.6 数据分析第34-35页
        3.2.7 程序算法优化第35-37页
    3.3 图形用户界面设计第37-39页
    3.4 本章小结第39-40页
第4章 FITBS 故障注入测试第40-52页
    4.1 FITBS 初步验证第40-41页
        4.1.1 SEU 故障注入测试第40页
        4.1.2 SET 故障注入测试第40-41页
    4.2 抗 SET 加固结构测试第41-43页
        4.2.1 Guard 结构故障注入测试第41-43页
        4.2.2 IDSDFF 故障注入测试第43页
    4.3 OPENMIPS 故障注入测试第43-50页
        4.3.1 OpenMips 的体系架构第44-46页
        4.3.2 OpenMips 故障注入测试平台准备工作第46-48页
        4.3.3 OpenMips 故障注入测试第48-50页
    4.4 FITBS 性能分析第50-51页
    4.5 本章小结第51-52页
结论第52-53页
参考文献第53-57页
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果第57-59页
致谢第59页

论文共59页,点击 下载论文
上一篇:马赫泽德微环谐振腔的研究
下一篇:用于SIMS分析的LED芯片样品制备