| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题来源 | 第8页 |
| 1.2 本课题的研究背景 | 第8页 |
| 1.3 本课题的研究目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.4 国内外研究现状及分析 | 第9-13页 |
| 1.5 本文的研究思路和组织结构 | 第13-14页 |
| 第2章 光学系统和硬件系统搭建 | 第14-22页 |
| 2.1 引言 | 第14-15页 |
| 2.2 光学系统搭建 | 第15-19页 |
| 2.3 运动系统各部件选型 | 第19-20页 |
| 2.4 机械结构设计 | 第20-21页 |
| 2.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 元件定位算法的编写和实现 | 第22-43页 |
| 3.1 引言 | 第22页 |
| 3.2 Mark 点定位 | 第22-23页 |
| 3.3 闭包法定位水平或竖直元件 | 第23-26页 |
| 3.3.1 定义算法窗 | 第24页 |
| 3.3.2 抽色 | 第24-25页 |
| 3.3.3 改进的蛇形扫描法查找目标颜色块 | 第25-26页 |
| 3.4 改进闭包法定位倾斜元件 | 第26-28页 |
| 3.4.1 二维平面点的旋转变换 | 第26-27页 |
| 3.4.2 倾斜元件定位过程 | 第27-28页 |
| 3.5 不抽色本体定位元件算法的实现 | 第28-36页 |
| 3.5.1 定义算法窗 | 第28-29页 |
| 3.5.2 二值化 | 第29-30页 |
| 3.5.3 边缘提取 | 第30-32页 |
| 3.5.4 改进 Hough 变换并查找目标矩形 | 第32-36页 |
| 3.6 不抽色本体定位元件的闭包法与轮廓法定位对比 | 第36-42页 |
| 3.6.1 水平竖直元件定位及结果分析 | 第37-39页 |
| 3.6.2 斜元件定位及结果分析 | 第39-40页 |
| 3.6.3 综合定位及结果分析 | 第40-42页 |
| 3.7 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 控制系统设计与统计过程控制 | 第43-58页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 控制系统设计 | 第43-53页 |
| 4.2.1 一般检测流程 | 第43-45页 |
| 4.2.2 电气系统设计 | 第45-47页 |
| 4.2.3 感应停板及传感器选型 | 第47-48页 |
| 4.2.4 检测流程设计 | 第48-49页 |
| 4.2.5 PLC 系统设计 | 第49-53页 |
| 4.3 统计过程控制 | 第53-57页 |
| 4.3.1 统计过程控制在自动光学检测中的应用 | 第53-54页 |
| 4.3.2 基于 WEB 平台的 SPC 软件的开发 | 第54-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63页 |