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基于态密度模型的铟镓锌氧化物薄膜晶体管的仿真研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第8-18页
    1.1 引言第8页
    1.2 薄膜晶体管(TFT)第8-12页
    1.3 铟镓锌氧化物薄膜晶体管(IGZO-TFT)第12-17页
    1.4 本文的主要工作内容及其意义第17-18页
2 IGZO的第一性原理仿真第18-33页
    2.1 引言第18页
    2.2 基于第一性原理的仿真第18-19页
    2.3 Zn O的结构及理论计算第19-25页
    2.4 IGZO的结构及理论计算第25-31页
    2.5 本章小结第31-33页
3 IGZO-TFT的建模与仿真第33-44页
    3.1 引言第33页
    3.2 基于态密度模型的仿真第33-35页
    3.3 仿真模型的验证第35-38页
    3.4 IGZO-TFT的器件优化第38-43页
    3.5 本章小结第43-44页
4 双有源层IGZO-TFT的建模与仿真第44-53页
    4.1 引言第44页
    4.2 双有源层IGZO-TFT的仿真第44-46页
    4.3 双有源层IGZO-TFT的器件优化第46-50页
    4.4 双有源层间界面位置对器件性能的影响第50-51页
    4.5 本章小结第51-53页
5 总结与展望第53-54页
    5.1 总结第53页
    5.2 研究展望第53-54页
致谢第54-55页
参考文献第55-61页
附录1攻读硕士学位期间发表的论文第61-62页
附录2攻读硕士学位期间申请的专利及获奖第62页

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