摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 课题的研究背景 | 第9-11页 |
1.2 课题的研究现状 | 第11-13页 |
1.3 本文主要工作 | 第13-15页 |
第2章 理论基础 | 第15-33页 |
2.1 麦克斯韦方程 | 第15-17页 |
2.2 Yee氏算法 | 第17-20页 |
2.2.1 Yee元胞 | 第17-19页 |
2.2.2 Yee氏差分方程格式 | 第19-20页 |
2.3 数值色散对空间离散的要求 | 第20-22页 |
2.4 吸收边界条件 | 第22-25页 |
2.4.1 一阶近似吸收边界条件 | 第22-25页 |
2.4.2 其他边界条件简介 | 第25页 |
2.5 激励源的设置 | 第25-26页 |
2.5.1 激励源的类型 | 第25-26页 |
2.5.2 激励源的添加形式 | 第26页 |
2.6 精细积分法 | 第26-28页 |
2.7 常用时域方法简介 | 第28-31页 |
2.7.1 时域有限差分法 | 第28-29页 |
2.7.2 四阶龙格库塔法 | 第29-31页 |
2.8 本章小结 | 第31-33页 |
第3章 光子晶体传输特性的时域精细积分法分析 | 第33-45页 |
3.1 理论推导与分析 | 第33-38页 |
3.1.1 麦克斯韦方程的空间离散格式 | 第33-34页 |
3.1.2 吸收边界条件与激励源 | 第34-35页 |
3.1.3 精细积分法求解 | 第35-38页 |
3.1.4 反射系数与透射系数 | 第38页 |
3.2 数值算例与分析 | 第38-44页 |
3.2.1 算法验证 | 第38-39页 |
3.2.2 时域精细积分法与时域有限差分法的比较 | 第39-41页 |
3.2.3 时域精细积分法与四阶龙格库塔法的比较 | 第41-44页 |
3.3 本章小结 | 第44-45页 |
第4章 基于时域精细积分法的光子晶体缺陷模特性研究 | 第45-57页 |
4.1 含缺陷光子晶体的理论模型 | 第45-46页 |
4.2 品质因子的计算及缺陷模特性的求解 | 第46-47页 |
4.3 数值算例与分析 | 第47-49页 |
4.3.1 算法验证 | 第47-48页 |
4.3.2 本文算法与时域有限差分法的分析比较 | 第48-49页 |
4.4 含缺陷光子晶体的缺陷模特性研究 | 第49-54页 |
4.4.1 缺陷层两侧周期数对光子晶体缺陷模特性的影响 | 第49-50页 |
4.4.2 缺陷层光学厚度对光子晶体缺陷模特性的影响 | 第50-52页 |
4.4.3 缺陷层折射率对光子晶体缺陷模特性的影响 | 第52-54页 |
4.5 本章小结 | 第54-57页 |
结论 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-63页 |
攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第63-65页 |
致谢 | 第65页 |