摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第9-13页 |
1.1 背景介绍 | 第9-11页 |
1.2 晶体学理论研究的核心及现状 | 第11-12页 |
1.3 本文主要的研究内容 | 第12页 |
1.4 本文结构 | 第12-13页 |
第2章 晶体结构解析理论基础 | 第13-27页 |
2.1 原子散射因子 | 第13-14页 |
2.2 结构因子 | 第14-15页 |
2.3 相位问题 | 第15-19页 |
2.4 晶体结构解析问题 | 第19-20页 |
2.5 Chargeflipping算法 | 第20-22页 |
2.6 ER/HIO算法 | 第22-24页 |
2.7 本章小结 | 第24-27页 |
第3章 电荷密度图的清晰度评价函数Tian1及其算法 | 第27-41页 |
3.1 电荷密度图的清晰度 | 第27-30页 |
3.2 图像的清晰度概念及评估函数 | 第30-33页 |
3.3 电荷密度的清晰度评估函数Tian1的构建 | 第33-37页 |
3.4 Tian1函数值作为判据 | 第37-39页 |
3.5 清晰度函数Tian1算法计算流程 | 第39-40页 |
3.6 本章小结 | 第40-41页 |
第4章 Tian1算法的测试 | 第41-49页 |
4.1 Tian1算法可行性分析 | 第41-43页 |
4.2 Tian1判据的适用范围 | 第43-45页 |
4.3 实验数据的测试 | 第45-46页 |
4.4 Tian1算法的分析讨论 | 第46-48页 |
4.5 本章小结 | 第48-49页 |
结论 | 第49-51页 |
参考文献 | 第51-55页 |
附录-Tian1程序 | 第55-71页 |
攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第71-73页 |
致谢 | 第73页 |