摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 引言 | 第10-14页 |
1.1 选题依据及研究意义 | 第10-11页 |
1.1.1 选题来源 | 第10页 |
1.1.2 研究意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
1.3 主要研究内容 | 第13页 |
1.4 主要研究成果 | 第13-14页 |
第2章 测量不确定度的理论基础 | 第14-26页 |
2.1 测量不确定度所涉及到的名词术语 | 第14-16页 |
2.2 测量不确定度与测量误差异同 | 第16-17页 |
2.3 产生测量不确定度的原因 | 第17-19页 |
2.4 测量不确定度的评定方法 | 第19-26页 |
2.4.1 标准不确定度的 A 类评定 | 第19-23页 |
2.4.1.1 贝塞尔法 | 第20-21页 |
2.4.1.2 极差法 | 第21页 |
2.4.1.3 分组极差法 | 第21-22页 |
2.4.1.4 平均极差法 | 第22页 |
2.4.1.5 最大残差法 | 第22-23页 |
2.4.1.6 最小二乘法 | 第23页 |
2.4.2 标准不确定度的 B 类评定 | 第23-26页 |
第3章 微束微区 X荧光探针分析的不确定度 | 第26-36页 |
3.1 微束微区 X 荧光矿物探针分析仪结构 | 第26-31页 |
3.1.1 微束激发源系统 | 第27-28页 |
3.1.1.1 X 射线管 | 第27页 |
3.1.1.2 X 光透镜 | 第27-28页 |
3.1.2 X 射线测量系统 | 第28页 |
3.1.2.1 探测器 | 第28页 |
3.1.2.2 数字核信号采集器 | 第28页 |
3.1.3 CCD 相机定位装置和微动样品台 | 第28-29页 |
3.1.4 应用软件 | 第29-31页 |
3.2 微束微区 X 荧光矿物探针分析仪不确定度来源分析 | 第31-34页 |
3.3 数学模型的建立 | 第34页 |
3.4 测量的准备 | 第34-35页 |
3.5 技术路线 | 第35-36页 |
第4章 仪器不确定度测量结果 | 第36-60页 |
4.1 仪器的标定 | 第36-40页 |
4.2 标样的不确定度 | 第40-45页 |
4.3 仪器的不确定度 | 第45-53页 |
4.3.1 仪器的示值误差引入 | 第45-46页 |
4.3.2 工作曲线校准引入 | 第46-50页 |
4.3.3 仪器调节台的定位精度引入 | 第50-51页 |
4.3.4 仪器重复测量引入 | 第51-53页 |
4.4 合成标准不确定度 | 第53-54页 |
4.5 扩展不确定度和结果表示 | 第54-55页 |
4.6 主成分分析 | 第55-60页 |
4.6.1 不同管电压对测量结果不确定度的影响 | 第56页 |
4.6.2 不同测量时间对测量结果不确定度的影响 | 第56-57页 |
4.6.3 不同管电流对测量结果不确定度的影响 | 第57-58页 |
4.6.4 不同焦斑大小对测量结果不确定度的影响 | 第58-59页 |
4.6.5 不同测量次数对测量结果不确定度的影响 | 第59-60页 |
结论 | 第60-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
攻读学位期间取得学术成果 | 第64页 |