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微束微区X荧光探针分析不确定度研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 引言第10-14页
    1.1 选题依据及研究意义第10-11页
        1.1.1 选题来源第10页
        1.1.2 研究意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-13页
    1.3 主要研究内容第13页
    1.4 主要研究成果第13-14页
第2章 测量不确定度的理论基础第14-26页
    2.1 测量不确定度所涉及到的名词术语第14-16页
    2.2 测量不确定度与测量误差异同第16-17页
    2.3 产生测量不确定度的原因第17-19页
    2.4 测量不确定度的评定方法第19-26页
        2.4.1 标准不确定度的 A 类评定第19-23页
            2.4.1.1 贝塞尔法第20-21页
            2.4.1.2 极差法第21页
            2.4.1.3 分组极差法第21-22页
            2.4.1.4 平均极差法第22页
            2.4.1.5 最大残差法第22-23页
            2.4.1.6 最小二乘法第23页
        2.4.2 标准不确定度的 B 类评定第23-26页
第3章 微束微区 X荧光探针分析的不确定度第26-36页
    3.1 微束微区 X 荧光矿物探针分析仪结构第26-31页
        3.1.1 微束激发源系统第27-28页
            3.1.1.1 X 射线管第27页
            3.1.1.2 X 光透镜第27-28页
        3.1.2 X 射线测量系统第28页
            3.1.2.1 探测器第28页
            3.1.2.2 数字核信号采集器第28页
        3.1.3 CCD 相机定位装置和微动样品台第28-29页
        3.1.4 应用软件第29-31页
    3.2 微束微区 X 荧光矿物探针分析仪不确定度来源分析第31-34页
    3.3 数学模型的建立第34页
    3.4 测量的准备第34-35页
    3.5 技术路线第35-36页
第4章 仪器不确定度测量结果第36-60页
    4.1 仪器的标定第36-40页
    4.2 标样的不确定度第40-45页
    4.3 仪器的不确定度第45-53页
        4.3.1 仪器的示值误差引入第45-46页
        4.3.2 工作曲线校准引入第46-50页
        4.3.3 仪器调节台的定位精度引入第50-51页
        4.3.4 仪器重复测量引入第51-53页
    4.4 合成标准不确定度第53-54页
    4.5 扩展不确定度和结果表示第54-55页
    4.6 主成分分析第55-60页
        4.6.1 不同管电压对测量结果不确定度的影响第56页
        4.6.2 不同测量时间对测量结果不确定度的影响第56-57页
        4.6.3 不同管电流对测量结果不确定度的影响第57-58页
        4.6.4 不同焦斑大小对测量结果不确定度的影响第58-59页
        4.6.5 不同测量次数对测量结果不确定度的影响第59-60页
结论第60-61页
致谢第61-62页
参考文献第62-64页
攻读学位期间取得学术成果第64页

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