| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 引言 | 第8-11页 |
| 1.1.1 厚膜集成电路板自动光学检测系统的应用背景 | 第8-9页 |
| 1.1.2 厚膜集成电路板自动检测系统的几种类型 | 第9-11页 |
| 1.2 厚膜集成电路自动检测系统的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文研究的目的及内容 | 第13-15页 |
| 第2章 厚膜集成电路板自动光学检测系统的相关算法原理 | 第15-27页 |
| 2.1 自动光学检测原理 | 第15页 |
| 2.2 检测系统算法原理 | 第15-27页 |
| 2.2.1 Gerber文件读取转化算法 | 第15-17页 |
| 2.2.2 连通域检测算法 | 第17-21页 |
| 2.2.3 中值滤波算法 | 第21-22页 |
| 2.2.4 图像尺度变换插值算法 | 第22-23页 |
| 2.2.5 图像灰度化算法 | 第23-24页 |
| 2.2.6 边缘保持平滑滤波算法 | 第24-25页 |
| 2.2.7 图像边缘检测算法 | 第25-27页 |
| 第3章 厚膜集成电路板自动光学检测系统的架构分析与设计 | 第27-31页 |
| 3.1 本系统的目标性能和完成功能分析 | 第27-28页 |
| 3.2 本系统的软硬件架构 | 第28-29页 |
| 3.3 本章小结 | 第29-31页 |
| 第4章 厚膜集成电路板自动光学检测系统的模块设计 | 第31-44页 |
| 4.1 图像数据采集模块 | 第31-32页 |
| 4.1.1 光学显微镜图像数据采集部分 | 第31页 |
| 4.1.2 参数设置部分 | 第31-32页 |
| 4.1.3 图像输出部分 | 第32页 |
| 4.2 检测模板生成模块 | 第32-38页 |
| 4.2.1 Gerber文件转换到图像部分 | 第32-37页 |
| 4.2.2 检测模板匹配 | 第37-38页 |
| 4.2.3 检测模板最终生成 | 第38页 |
| 4.3 自动光学检测模块 | 第38-42页 |
| 4.3.1 原始图像处理部分 | 第38页 |
| 4.3.2 电路板错误查找部分 | 第38-40页 |
| 4.3.3 电路模块错误判定部分 | 第40-42页 |
| 4.4 用户界面交互模块 | 第42-43页 |
| 4.5 数据记录报告模块 | 第43-44页 |
| 第5章 厚膜集成电路板自动光学检测系统的整体实现 | 第44-51页 |
| 5.1 厚膜集成电路板自动光学检测系统的整体实现 | 第44-45页 |
| 5.1.1 软件平台 | 第44页 |
| 5.1.2 硬件平台 | 第44-45页 |
| 5.2 结果和优化 | 第45-50页 |
| 5.2.1 厚膜集成电路板自动光学检测系统的最终实现结果 | 第45-47页 |
| 5.2.2 厚膜集成电路板自动光学检测系统的后期优化 | 第47-50页 |
| 5.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 总结和展望 | 第51-54页 |
| 6.1 全文总结 | 第51-52页 |
| 6.2 课题展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 研究生期间主要科研成就 | 第59页 |
