| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 本文的主要内容和结构 | 第13-16页 |
| 第2章 基于瑞利散射的少模光纤模式耦合测量机理 | 第16-34页 |
| 2.1 瑞利散射及其应用 | 第16-23页 |
| 2.1.1 光纤中的光散射 | 第16-17页 |
| 2.1.2 光纤中的瑞利散射 | 第17-18页 |
| 2.1.3 基于瑞利散射的光时域反射仪（OTDR） | 第18-23页 |
| 2.2 少模光纤 | 第23-28页 |
| 2.2.1 少模光纤的模式理论 | 第23-25页 |
| 2.2.2 模式的正交性 | 第25-26页 |
| 2.2.3 模式之间耦合 | 第26-28页 |
| 2.3 少模光纤的背向瑞利散射理论 | 第28-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第3章 少模光纤模式耦合分布测量 | 第34-54页 |
| 3.1 测量原理 | 第34页 |
| 3.2 少模光纤模式耦合测量系统 | 第34-39页 |
| 3.3 影响测量结果的主要因素 | 第39-41页 |
| 3.3.1 入射光脉冲的峰值功率 | 第39-40页 |
| 3.3.2 脉冲的重复频率和脉宽 | 第40页 |
| 3.3.3 端面菲涅尔反射 | 第40-41页 |
| 3.4 实验结果 | 第41-52页 |
| 3.4.1 非简并模模式耦合测量 | 第41-51页 |
| 3.4.2 简并模之间的耦合 | 第51-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第4章 熔接点处的模式耦合测量 | 第54-64页 |
| 4.1 测量原理 | 第54-57页 |
| 4.2 牛顿迭代算法 | 第57-58页 |
| 4.3 实验测量系统 | 第58页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第58-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-64页 |
| 第5章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 5.1 总结 | 第64-65页 |
| 5.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 作者简介及在攻读硕士期间取得的科研成果 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |