应用于TDI-CMOS图像传感器列级Cyclic ADC的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 CMOS图像传感器概述 | 第8-9页 |
| 1.2 TDI型图像传感器工作原理 | 第9-10页 |
| 1.3 TDI型CMOS图像传感器发展现状 | 第10页 |
| 1.4 选题意义 | 第10-12页 |
| 1.5 论文结构 | 第12-13页 |
| 第二章 列级ADC基本理论 | 第13-21页 |
| 2.1 累加方式 | 第13-14页 |
| 2.2 图像传感器列级ADC | 第14-16页 |
| 2.2.1 逐次逼近寄存器型ADC | 第14-15页 |
| 2.2.2 单斜式ADC | 第15-16页 |
| 2.2.3 循环ADC | 第16页 |
| 2.3 ADC的性能评价指标 | 第16-20页 |
| 2.3.1 动态指标 | 第17-18页 |
| 2.3.2 静态指标 | 第18-19页 |
| 2.3.3 综合评价指标 | 第19-20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 Cyclic ADC非理想因素分析 | 第21-30页 |
| 3.1 比较器失调 | 第21-25页 |
| 3.2 开关电容引入误差分析 | 第25-26页 |
| 3.2.1 开关引入电荷注入和时钟耦合误差 | 第25页 |
| 3.2.2 采样时钟不稳定误差 | 第25-26页 |
| 3.2.3 开关电容热噪声 | 第26页 |
| 3.3 电容和运放引入误差分析 | 第26-29页 |
| 3.3.1 电容极板翻转型MDAC | 第27页 |
| 3.3.2 电荷转移型MDAC | 第27-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 数字域校准Cyclic ADC设计 | 第30-59页 |
| 4.1 数字校准算法 | 第30-40页 |
| 4.1.1 MDAC架构 | 第30-34页 |
| 4.1.2 电容失配引入误差 | 第34-35页 |
| 4.1.3 数字校准原理 | 第35-37页 |
| 4.1.4 数字校准算法建模仿真 | 第37-40页 |
| 4.2 关键电路设计与仿真 | 第40-54页 |
| 4.2.1 自举开关 | 第40-43页 |
| 4.2.2 乘2放大器 | 第43-48页 |
| 4.2.3 比较器 | 第48-51页 |
| 4.2.4 RSD编码电路 | 第51-52页 |
| 4.2.5 sub-DAC | 第52-53页 |
| 4.2.6 两相不交叠时钟 | 第53-54页 |
| 4.3 系统架构以及仿真结果 | 第54-57页 |
| 4.4 Cyclic ADC的版图设计 | 第57-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 模拟域校准Cyclic ADC设计 | 第59-69页 |
| 5.1 模拟校准原理 | 第59-60页 |
| 5.2 Cyclic ADC系统架构 | 第60-63页 |
| 5.3 关键电路设计与仿真 | 第63-64页 |
| 5.4 Cyclic ADC的版图设计和仿真 | 第64-68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 工作总结 | 第69页 |
| 6.2 工作展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
