| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 硅烯的发现 | 第7-8页 |
| 1.2 硅烯中存在缺陷的研究进展 | 第8-11页 |
| 2 研究硅烯的理论方法 | 第11-17页 |
| 2.1 紧束缚理论 | 第11-12页 |
| 2.2 有限差分法 | 第12-13页 |
| 2.3 格林函数理论 | 第13-17页 |
| 3 线缺陷对锯齿形硅烯纳米带电导率的影响 | 第17-28页 |
| 3.1 引言 | 第17页 |
| 3.2 理论模型和计算方法 | 第17-21页 |
| 3.3 计算结果与分析 | 第21-28页 |
| 4 线缺陷对锯齿形硅烯纳米带谷极化性质的影响 | 第28-33页 |
| 4.1 引言 | 第28页 |
| 4.2 理论方法 | 第28-29页 |
| 4.3 计算结果与分析 | 第29-33页 |
| 5 总结与展望 | 第33-34页 |
| 参考文献 | 第34-38页 |
| 致谢 | 第38页 |