| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 引言 | 第9-17页 |
| 1.1 研究的背景、目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.1.1 选题的背景 | 第9页 |
| 1.1.2 研究的目的 | 第9-10页 |
| 1.1.3 研究的意义 | 第10页 |
| 1.2 单位根检验的文献综述 | 第10-16页 |
| 1.2.1 常规单位根检验方法的比较 | 第10-11页 |
| 1.2.2 非线性趋势检验的研究 | 第11-12页 |
| 1.2.3 结构突变问题的研究 | 第12-14页 |
| 1.2.4 退势方法选择的研究 | 第14-15页 |
| 1.2.5 单位根检验方法的发展与创新 | 第15-16页 |
| 1.3 本文的研究思路以及可能的创新点 | 第16-17页 |
| 2 单位根检验影响因素的探讨 | 第17-25页 |
| 2.1 常用单位根检验方法的检验原理 | 第17-20页 |
| 2.2 单位根检验功效影响因素 | 第20-25页 |
| 2.2.1 单位根检验统计量在备择假设下的极限分布 | 第20-21页 |
| 2.2.2 检验功效 | 第21-22页 |
| 2.2.3 单位根检验的影响因素 | 第22-25页 |
| 3 单位根检验的蒙特卡洛模拟 | 第25-57页 |
| 3.1 有效模拟次数的确定 | 第25-26页 |
| 3.2 不同检验形式的模拟 | 第26-33页 |
| 3.2.1 不存在漂移项和时间趋势项的模拟 | 第26-30页 |
| 3.2.2 同时存在漂移项和时间趋势项的模拟 | 第30-33页 |
| 3.3 时间趋势为非线性趋势项的模拟 | 第33-48页 |
| 3.3.1 平方根时间趋势项的模拟 | 第34-39页 |
| 3.3.2 二次时间趋势项的模拟 | 第39-44页 |
| 3.3.3 对数时间趋势项的模拟 | 第44-48页 |
| 3.4 结构突变的模拟 | 第48-53页 |
| 3.4.1 截距项突变的模拟 | 第49-52页 |
| 3.4.2 趋势项突变的模拟 | 第52-53页 |
| 3.4.3 截距项和趋势项同时突变的模拟 | 第53页 |
| 3.5 残差项服从不同分布情况下的模拟 | 第53-57页 |
| 3.5.1 残差服从t分布的模拟 | 第54-57页 |
| 4 单位根检验功效的总结及检验方法的选择 | 第57-64页 |
| 4.1 单位根检验功效的总结 | 第57-60页 |
| 4.2 单位根检验方法的选择 | 第60-64页 |
| 4.2.1 已知情形下检验方法的优劣选择 | 第60-62页 |
| 4.2.2 未知情形下检验方法的选择 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 后记 | 第68-69页 |
| 附录 | 第69-71页 |