星载抗辐射CMOS多功能控制芯片的综合测试系统设计
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 PXI总线 | 第13-15页 |
| 1.3.1 PXI总线概述 | 第13页 |
| 1.3.2 PXI总线型系统结构 | 第13-15页 |
| 1.4 本文的主要工作及章节安排 | 第15-17页 |
| 第2章 CMOS多功能控制芯片设计原理简述 | 第17-32页 |
| 2.1 控制逻辑电路 | 第19-22页 |
| 2.1.1 移位寄存器 | 第19-21页 |
| 2.1.2 锁存器 | 第21页 |
| 2.1.3 电平转换 | 第21-22页 |
| 2.2 温度传感器 | 第22-29页 |
| 2.2.1 温度传感器的基本电路 | 第22-28页 |
| 2.2.2 二极管的温度特性 | 第28-29页 |
| 2.3 抗辐射加固设计 | 第29-32页 |
| 2.3.1 环形栅 | 第30页 |
| 2.3.2 三模冗余 | 第30-31页 |
| 2.3.3 保护环 | 第31-32页 |
| 第3章 综合测试系统的硬件部分设计 | 第32-53页 |
| 3.1 综合测试系统的硬件设计要求 | 第32-33页 |
| 3.2 综合测试系统的硬件总体框架 | 第33-36页 |
| 3.3 综合测试系统的硬件详细设计方案 | 第36-53页 |
| 3.3.1 电源及功耗实时监测模块 | 第36-39页 |
| 3.3.2 模拟电压实时采集模块 | 第39-41页 |
| 3.3.3 高速时序生成及采集模块 | 第41-43页 |
| 3.3.4 矩阵开关模块 | 第43-46页 |
| 3.3.5 高精度温度测量模块 | 第46-50页 |
| 3.3.6 测试专用板 | 第50-51页 |
| 3.3.7 环境试验设备 | 第51-53页 |
| 第4章 综合测试系统的软件部分设计 | 第53-73页 |
| 4.1 综合测试系统的软件总体架构 | 第53-54页 |
| 4.2 综合测试系统的软件详细设计方案 | 第54-73页 |
| 4.2.1 电性能测试 | 第54-59页 |
| 4.2.2 温度测试 | 第59-66页 |
| 4.2.3 单粒子效应测试 | 第66-67页 |
| 4.2.4 数据库管理系统 | 第67-70页 |
| 4.2.5 用户UI的设计 | 第70-73页 |
| 第5章 测试数据和结果分析 | 第73-83页 |
| 5.1 电性能测试结果 | 第73-75页 |
| 5.2 温度传感器测试结果 | 第75-77页 |
| 5.3 温度补偿测试结果 | 第77-79页 |
| 5.4 单粒子效应测试结果 | 第79-83页 |
| 第6章 总结与展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 作者简介 | 第87页 |
| 发表的学术论文 | 第87页 |
