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LHAASO WCDA中基于电流型TOT技术的前端读出ASIC设计

目录第1-10页
摘要第10-12页
ABSTRACT第12-14页
第1章 引言第14-27页
   ·大型高海拔空气簇射观测站(LHAASO)第15-19页
     ·宇宙射线和高能伽玛射线简介第15-16页
     ·LHAASO实验物理目标第16-17页
     ·LHAASO实验探测器结构及特点第17-19页
   ·LHAASO水契伦科夫探测器(WCDA)第19-21页
     ·WCDA物理研究背景第19-20页
     ·WCDA探测器结构及原理第20-21页
     ·WCDA光电倍增管特性第21页
   ·LHAASO WCDA读出电子学第21-25页
     ·WCDA读出电子学技术难点第21-22页
     ·WCDA读出电子学结构及特点第22-24页
     ·WCDA前端读出ASIC设计第24-25页
   ·本章小结第25页
 参考文献第25-27页
第2章 物理实验中时间和电荷测量方法第27-61页
   ·物理实验中时间测量方法第29-35页
     ·时间检出方法第29-33页
       ·前沿定时第30-31页
       ·恒比定时第31-33页
       ·幅度和上升时间补偿定时第33页
     ·时间数字化方法第33-35页
       ·基于FPGA实现的TDC第33-34页
       ·高精度时间数字变换ASIC第34-35页
   ·物理实验中电荷测量方法第35-40页
     ·成形寻峰第36-37页
     ·波形数字化第37-38页
     ·过阈时间法第38-40页
   ·模拟ASIC信号处理的两种方法:电压模和电流模第40-41页
   ·应用于物理实验的时间和电荷测量ASIC调研第41-59页
     ·PARISROC第41-47页
       ·PARISROC电路结构及特点第42-44页
       ·PARISROC版图设计和输入信号特点第44页
       ·PARISROC测试性能第44-47页
     ·SPIROC第47-52页
       ·SPIROC电路结构及特点第47-49页
       ·SPIROC工作模式和版图设计第49-50页
       ·SPIROC测试性能第50-52页
     ·SCOTT第52-54页
       ·SCOTT技术路线和电路结构第52-53页
       ·SCOTT测试性能第53-54页
     ·CLC101第54-59页
       ·CLC101输入信号特点第55页
       ·CLC101电路结构及原理第55-57页
       ·CLC101测试性能第57-59页
   ·本章小结第59页
 参考文献第59-61页
第3章 基于电流型TOT技术的PMT读出ASIC设计方案第61-77页
   ·输入信号特点及指标要求第63-64页
   ·ASIC设计技术路线第64-65页
   ·ASIC整体设计方案第65-75页
     ·4000倍大动态范围实现第65-66页
     ·高精度阻抗匹配实现第66-68页
       ·阳极读出通道阻抗匹配考虑第66-67页
       ·打拿极读出通道阻抗匹配考虑第67-68页
     ·电流型前沿定时甄别第68-70页
     ·基于过阈时间法的电荷测量第70-73页
       ·电荷测量原理第70-71页
       ·电荷测量数字逻辑第71-72页
       ·充放电过程开关控制第72页
       ·固定门宽充电方案第72-73页
     ·ASIC电路结构第73-75页
   ·本章小结第75页
 参考文献第75-77页
第4章 ASIC单元电路设计第77-113页
   ·片外输入耦合电路设计第79-82页
     ·阳极通道输入耦合电路设计第79-82页
     ·打拿极通道输入耦合电路设计第82页
   ·前置放大器设计与分析第82-88页
     ·输入信号及负载特点第82-83页
     ·噪声分析第83-85页
     ·仿真结果第85-88页
   ·电压电流转换电路设计与分析第88-95页
     ·经典电压电流转换电路第88-89页
     ·基于翻转电压跟随器结构的电压电流转换电路第89-95页
       ·基于低输入阻抗的电压电流转换原理第89-90页
       ·翻转电压跟随器结构与特点第90-92页
       ·基于翻转电压跟随器结构的电压电流转换电路第92-93页
       ·电压电流转换电路仿真结果第93-95页
   ·电流舵DAC设计第95-105页
     ·DAC主要性能指标第96-97页
     ·DAC主要结构类型第97-102页
       ·电阻串DAC第97-98页
       ·多级电阻串DAC第98页
       ·R-2R电阻DAC第98-99页
       ·电阻分段DAC第99页
       ·电荷重分配DAC第99-100页
       ·温度计编码电流舵DAC第100页
       ·二进制权重电流舵DAC第100-101页
       ·W-2W电流舵DAC第101-102页
     ·电流舵DAC设计及分析第102-105页
       ·DAC性能指标要求第102-103页
       ·二进制权重电流舵DAC设计第103-104页
       ·电流舵DAC仿真结果第104-105页
   ·单稳态电路设计第105-110页
     ·经典积分型单稳态第106-107页
     ·经典微分型单稳态第107页
     ·电流充电型单稳态第107-110页
   ·本章小结第110页
 参考文献第110-113页
第5章 ASIC前仿真结果及分析第113-135页
   ·关键节点波形第115-117页
   ·时间测量前仿真结果第117-125页
     ·时间测量传输曲线第117-118页
     ·时间测量精度仿真分析第118-125页
       ·电流噪声分析模型第119-122页
       ·电压噪声分析模型第122-125页
   ·电荷测量前仿真结果第125-131页
     ·电荷测量传输曲线第125-128页
     ·电荷测量精度仿真分析第128-131页
   ·温度依赖性仿真分析第131-133页
   ·本章小结第133页
 参考文献第133-135页
第6章 ASIC版图设计和后仿真结果第135-143页
   ·ASIC版图设计第137-140页
   ·ASIC后仿真结果第140-141页
   ·ASIC封装第141-142页
   ·本章小结第142页
 参考文献第142-143页
第7章 ASIC测试结果及分析第143-159页
   ·ASIC测试方法第145-147页
   ·ASIC测试系统设计第147-148页
   ·ASIC测试结果及分析第148-158页
     ·功能性测试第149页
     ·单通道测试结果第149-155页
       ·短电缆传输时间电荷测量第149-151页
       ·长电缆传输时间电荷测量第151-153页
       ·输入率依赖性测试第153-154页
       ·TDC联调测试第154-155页
     ·多芯片性能测试第155-158页
   ·本章小结第158-159页
第8章 总结与展望第159-163页
   ·总结第161-162页
   ·展望第162-163页
攻读学位期间发表及待发表的学术论文第163-165页
致谢第165页

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