| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-31页 |
| ·ZnO的基本性质 | 第9-10页 |
| ·ZnO薄膜的制备方法及测试技术 | 第10-24页 |
| ·脉冲激光沉积(PLD) | 第11-12页 |
| ·原子层沉积(ALD) | 第12-13页 |
| ·磁控溅射 | 第13-15页 |
| ·溶胶-凝胶(Sol-Gel) | 第15-16页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第16-17页 |
| ·电学测量 | 第17-19页 |
| ·扫描电镜(SEM) | 第19-20页 |
| ·光学测量 | 第20-22页 |
| ·紫外可见分光光度计(UV-Vis spectroscopy) | 第22-24页 |
| ·p型ZnO的研究进展 | 第24-26页 |
| ·本论文的研究内容及意义 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27页 |
| 参考文献 | 第27-31页 |
| 第二章 不同氮气压下(Li,N)：ZnO薄膜结构及性能研究 | 第31-48页 |
| ·样品制备 | 第31-32页 |
| ·不同氮气压下的(Li,N)：ZnO-0.1%实验结果及分析 | 第32-39页 |
| ·样品结构分析 | 第32-35页 |
| ·样品的形貌分析 | 第35-36页 |
| ·电学性能分析 | 第36-38页 |
| ·样品的光致发光性质分析 | 第38-39页 |
| ·不同氮气压下制备的(Li,N)：ZnO-0.05%样品分析 | 第39-45页 |
| ·结构分析 | 第39-40页 |
| ·透射光谱分析 | 第40-42页 |
| ·光学性质分析 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45页 |
| 参考文献 | 第45-48页 |
| 第三章 低N条件下Li含量对ZnO薄膜结构和激子发光的影响 | 第48-59页 |
| ·样品制备方法 | 第48页 |
| ·实验结果及分析 | 第48-56页 |
| ·样品结构分析 | 第48-49页 |
| ·光学性能分析 | 第49-52页 |
| ·发光的物理过程分析 | 第52-54页 |
| ·样品电学性质检测 | 第54-55页 |
| ·Li-N共掺杂机理探讨 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 第四章 ZnO同质p-n结的制备及研究 | 第59-77页 |
| ·金属-半导体接触类型 | 第59-63页 |
| ·欧姆接触 | 第61-62页 |
| ·肖特基接触 | 第62-63页 |
| ·p-n结原理 | 第63-64页 |
| ·实验过程 | 第64-65页 |
| ·实验结果及分析 | 第65-72页 |
| ·结构分析 | 第65-67页 |
| ·电极测试 | 第67-68页 |
| ·电学分析 | 第68-69页 |
| ·p-n结的光学特性 | 第69-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 第五章 总结 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 攻读博士期间发表论文情况 | 第80-81页 |
