一种高可靠语音处理系统的设计和实现
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
目录 | 第7-10页 |
第一章 绪论 | 第10-12页 |
·应用背景和研究内容 | 第10页 |
·论文的研究目的及其意义 | 第10页 |
·论文的特色和创新 | 第10-11页 |
·论文的章节安排 | 第11-12页 |
第二章 低码速率语音编码技术的介绍与比较 | 第12-19页 |
·概述 | 第12-13页 |
·几种国际常用语音编码标准简介 | 第13-15页 |
·LPC 语音编码 | 第13页 |
·RPE-LTP 编码与 GSM 标准 | 第13-14页 |
·CELP 与 VCELP 声码器 | 第14页 |
·G .729 标准 | 第14-15页 |
·多带激励(MBE) | 第15页 |
·语音编码性能的主要指标 | 第15-16页 |
·语音编码算法比较 | 第16-18页 |
·本章小结 | 第18-19页 |
第三章 基于 AMBE 算法的语音处理系统设计 | 第19-31页 |
·AMBE 语音压缩算法 | 第19-21页 |
·系统设计方案选择 | 第21-22页 |
·AMBE2000 芯片简介 | 第22-23页 |
·模数-数模转换芯片简介 | 第23-25页 |
·AMBE 语音处理系统的实现 | 第25-28页 |
·供电模块设计 | 第28-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第四章 FPGA 设计与仿真验证 | 第31-38页 |
·FPGA 实现 | 第31页 |
·AMBE 编码 | 第31-33页 |
·AMBE 解码 | 第33-36页 |
·AMBE 编码部分的软件仿真 | 第36页 |
·AMBE 解码部分的软件仿真 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第五章 硬件可靠性设计 | 第38-49页 |
·冗余设计 | 第38页 |
·故障隔离设计 | 第38-41页 |
·供电电路故障隔离设计 | 第38-39页 |
·公共接口电路故障隔离设计 | 第39-41页 |
·高质量等级元器件的选用 | 第41-42页 |
·军用元器件的质量等级划分 | 第41-42页 |
·元器件质量等级的选择 | 第42页 |
·元器件的降额使用 | 第42-43页 |
·电磁兼容设计 | 第43-47页 |
·电磁兼容要求 | 第43-44页 |
·电磁兼容设计与措施 | 第44-47页 |
·电磁兼容试验结果 | 第47页 |
·抗辐照设计 | 第47-48页 |
·空间辐射效应对半导体器件的影响 | 第47页 |
·抗辐照设计措施 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第六章 FPGA 可靠性设计 | 第49-62页 |
·数据同步指示状态输出异常问题 | 第49-53页 |
·FPGA 时钟时序机理分析 | 第53-59页 |
·措施与验证 | 第59-61页 |
·其它 FPGA 可靠性设计措施 | 第61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第七章 系统测试结果 | 第62-64页 |
第八章 总结和展望 | 第64-65页 |
·完成的工作总结 | 第64页 |
·研究展望 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第68页 |