真随机数发生器及数字后处理方案的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题背景及意义 | 第7页 |
| ·主要完成的工作 | 第7-8页 |
| ·本文的结构安排 | 第8-11页 |
| 第二章 随机数的基本的概念及其发生器的原理 | 第11-21页 |
| ·随机数的基本概念 | 第11-13页 |
| ·随机数的应用 | 第11页 |
| ·随机数和随机序列 | 第11-12页 |
| ·随机数的特性 | 第12-13页 |
| ·衡量随机序列质量的主要标准 | 第13页 |
| ·伪随机数发生器的原理 | 第13-16页 |
| ·伪随机数发生器的特性以及其应用价值 | 第13-14页 |
| ·伪随机数发生器的常用方法 | 第14-16页 |
| ·真随机数发生器的原理 | 第16-19页 |
| ·真随机数与真随机源 | 第16-17页 |
| ·真随机数发生器的常用方法 | 第17-18页 |
| ·随机数发生器的选择 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-21页 |
| 第三章 随机序列的测试标准 | 第21-29页 |
| ·随机序列的性能指标 | 第21页 |
| ·统计测试基础 | 第21-22页 |
| ·测试方法的理论基础 | 第22-23页 |
| ·真随机序列测试标准AIS31 | 第23-28页 |
| ·AIS31指定的基本统计测试项 | 第24-26页 |
| ·AIS31评估要求 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 真随机数发生器及后处理部分设计 | 第29-49页 |
| ·影响随机性的因素 | 第29-34页 |
| ·采样点对随机性的影响 | 第30-32页 |
| ·高频占空比对随机性的影响 | 第32-33页 |
| ·其它因素对随机性的影响 | 第33-34页 |
| ·真随机数发生器模型 | 第34-37页 |
| ·基本的低频采高频方案 | 第34-35页 |
| ·增加级间电阻的低频采高频方案 | 第35-36页 |
| ·低频采样扰高频方案 | 第36-37页 |
| ·振荡器部分的设计和实现 | 第37-41页 |
| ·延迟单元的选择 | 第37-38页 |
| ·差分延迟单元的设计 | 第38-40页 |
| ·振荡器的实现方案 | 第40-41页 |
| ·数字后处理部分的设计及实现 | 第41-47页 |
| ·预选的后处理方案 | 第42-44页 |
| ·设计的后处理方案 | 第44-45页 |
| ·后处理的效果 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第五章 真随机数发生器输出性能测试 | 第49-59页 |
| ·生成随机序列的性能测试 | 第49页 |
| ·随机性检测标准 | 第49-51页 |
| ·检测项 | 第49-50页 |
| ·检测所需数据量 | 第50-51页 |
| ·随机性检测方案 | 第51-52页 |
| ·检测结果分析 | 第52-57页 |
| ·随机性检测软件 | 第52-53页 |
| ·随机性检测及分析 | 第53-57页 |
| ·随机性测试结果分析 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 结束语 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 研究成果 | 第67页 |
