基于压电阻抗技术的压电元件自损伤检测研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 图表清单 | 第9-12页 |
| 注释表 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·压电智能材料 | 第13-14页 |
| ·压电智能材料在结构健康监测中的应用 | 第14-15页 |
| ·压电元件自损伤检测问题的提出 | 第15-16页 |
| ·国内外研究进展 | 第16-17页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第17-18页 |
| 第二章 压电阻抗技术的基本原理 | 第18-29页 |
| ·压电效应 | 第18-19页 |
| ·压电方程 | 第19-20页 |
| ·压电阻抗技术的基本原理 | 第20-28页 |
| ·单自由度系统结构的机械阻抗 | 第21-22页 |
| ·PZT 驱动系统响应分析 | 第22-23页 |
| ·压电片驱动SMD 模型的耦合电阻抗分析 | 第23-26页 |
| ·压电元件损伤下的电纳分析 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 压电元件自损伤检测的仿真研究 | 第29-41页 |
| ·ANSYS 有限元分析方法 | 第29-30页 |
| ·建模与网格划分 | 第30-36页 |
| ·模型建立 | 第30-35页 |
| ·网格划分 | 第35-36页 |
| ·谐响应分析 | 第36-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 压电片自损伤检测的实验研究 | 第41-53页 |
| ·阻抗分析仪测量结构导纳值 | 第41-46页 |
| ·实验方案 | 第41-43页 |
| ·实验结果与分析 | 第43-46页 |
| ·电路实现方案 | 第46-51页 |
| ·测量电路原理及流程 | 第46-48页 |
| ·LabVIEW 数据处理 | 第48-51页 |
| ·测量结果分析 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第五章 温度对压电片自检的影响及补偿方法 | 第53-61页 |
| ·温度效应 | 第53页 |
| ·温度实验及结果分析 | 第53-58页 |
| ·温度补偿算法 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 压电元件自损伤检测系统 | 第61-81页 |
| ·AD5933 功能介绍 | 第61-66页 |
| ·引脚定义 | 第62-63页 |
| ·内部结构 | 第63-66页 |
| ·阻抗测量实现 | 第66页 |
| ·系统数据通讯 | 第66-68页 |
| ·ATmega16 单片机 | 第66-67页 |
| ·I~2C 通讯 | 第67-68页 |
| ·系统设计 | 第68-75页 |
| ·软件设计 | 第68-72页 |
| ·硬件电路设计 | 第72-75页 |
| ·实验结果 | 第75-80页 |
| ·电阻测量验证 | 第75-77页 |
| ·损伤判定 | 第77-80页 |
| ·本章小结 | 第80-81页 |
| 第七章 总结与研究展望 | 第81-83页 |
| ·工作总结 | 第81页 |
| ·研究工作展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第88页 |
