| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 前言 | 第8-25页 |
| ·概述 | 第8-9页 |
| ·有机电致发光的发展历史与应用现状 | 第9-13页 |
| ·有机电致发光的工作机理与电致发光器件的基本结构 | 第13-19页 |
| ·有机电致发光的工作机理 | 第13-17页 |
| ·有机EL器件的结构 | 第17-19页 |
| ·有机电致发光器件的材料 | 第19-21页 |
| ·发光材料(Emitting Materials) | 第19-20页 |
| ·空穴传输材料(Hole Transport Materials,HTM) | 第20页 |
| ·电子传输材料(Electron Transport Materials,ETM) | 第20页 |
| ·多功能的载流子传输材料 | 第20页 |
| ·空穴注入材料 | 第20-21页 |
| ·空穴阻挡材料 | 第21页 |
| ·有机电致发光器件的性能评估与失效机理 | 第21-23页 |
| ·性能评估参数 | 第21-22页 |
| ·有机电致发光二极管的失效机理 | 第22-23页 |
| ·本文工作内容及创新 | 第23-25页 |
| 第二章 OLED发光面积退化研究 | 第25-38页 |
| ·实验内容 | 第25-26页 |
| ·不同环境下发光面积变化规律 | 第26-31页 |
| ·空气环境下发光面积的变化及分析 | 第26-29页 |
| ·干燥空气环境下发光面积的变化及分析 | 第29-31页 |
| ·潮湿氮气环境下发光面积的变化及分析 | 第31页 |
| ·失效器件形貌分析 | 第31-36页 |
| ·实验讨论 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第三章 N&K Analyzer在OLED失效分析中的应用 | 第38-49页 |
| ·N&K多功能薄膜仪简介 | 第38-41页 |
| ·薄膜测量系统 | 第38页 |
| ·N&K薄膜表征的理论基础 | 第38-40页 |
| ·N&K方法介绍 | 第40-41页 |
| ·实验内容 | 第41-44页 |
| ·OLED器件制备 | 第41-43页 |
| ·N&K分析与测量 | 第43-44页 |
| ·结果与讨论 | 第44-48页 |
| ·器件样品薄膜反射率随放置时间的变化趋势 | 第44-45页 |
| ·放置10天后器件各层薄膜厚度分析 | 第45-46页 |
| ·放置40天及通电器件厚度分析 | 第46-47页 |
| ·器件各层厚度变化趋势 | 第47-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 第四章 OLED电极引线腐蚀研究 | 第49-58页 |
| ·引言 | 第49-51页 |
| ·实验方法 | 第51-52页 |
| ·实验结果与讨论 | 第52-57页 |
| ·腐蚀产物分析 | 第52-55页 |
| ·极化曲线分析 | 第55-56页 |
| ·讨论 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
