锥束工业CT扫描方式与近似重建算法的改进
中文摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
·CT 及CT 技术的发展概况 | 第9-13页 |
·CT 与CT 的历史 | 第9-11页 |
·CT 技术的发展 | 第11-13页 |
·课题研究的目的和意义 | 第13-14页 |
·课题研究的现状 | 第14-15页 |
·课题研究的主要内容 | 第15-17页 |
2 锥束CT 理论基础 | 第17-43页 |
·引言 | 第17页 |
·CT 成像的基础 | 第17-21页 |
·CT 成像的物理基础 | 第17-19页 |
·CT 成像的数学基础 | 第19-21页 |
·二维等间距扇形束投影重建算法 | 第21-23页 |
·锥束近似重建算法 | 第23-28页 |
·锥束中心平面等间距扇束重建公式 | 第23-25页 |
·锥束重建公式 | 第25-28页 |
·FDK 算法及扫描轨迹的发展 | 第28-41页 |
·FDK 算法的发展 | 第28-37页 |
·基于FDK 算法扫描轨迹的发展 | 第37-41页 |
·本章小结 | 第41-43页 |
3 锥束CT 的完全扫描高度 | 第43-55页 |
·引言 | 第43页 |
·圆形扫描轨迹分析 | 第43-47页 |
·物体内一点能够被旋转角为β的射线束扫描的条件 | 第43-45页 |
·完全扫描的条件 | 第45-46页 |
·完全扫描的高度与锥角的关系 | 第46-47页 |
·多层圆形扫描的层间距 | 第47-48页 |
·仿真与结果讨论 | 第48-52页 |
·圆形扫描 | 第50-51页 |
·多层圆形扫描 | 第51-52页 |
·本章小结 | 第52-55页 |
4 窄角锥束CT 的改进扫描 | 第55-67页 |
·引言 | 第55页 |
·Ⅱ代和Ⅲ代锥束CT 扫描 | 第55-58页 |
·Ⅱ代锥束CT 扫描 | 第55-57页 |
·Ⅲ代CT 锥束扫描 | 第57-58页 |
·Ⅱ+Ⅲ代锥束CT 扫描 | 第58-60页 |
·扫描原理 | 第58页 |
·平移步距 | 第58-60页 |
·采样次数和相对冗余率 | 第60页 |
·Ⅱ+Ⅲ代锥束CT 的重建 | 第60-62页 |
·重建区域的拼接 | 第60-61页 |
·水平偏心FDK 算法 | 第61-62页 |
·仿真及结果分析 | 第62-66页 |
·采样次数与数据冗余量分析 | 第66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
5 锥束CT 的串扰屏蔽 | 第67-75页 |
·引言 | 第67页 |
·采样方法 | 第67-68页 |
·仿真及结果 | 第68-74页 |
·仿真模型 | 第68页 |
·模拟射线串扰的方法 | 第68-69页 |
·仿真结果 | 第69-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
6 结论与展望 | 第75-77页 |
·研究工作总结 | 第75页 |
·存在问题及后续工作展望 | 第75-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-84页 |
附录 | 第84-85页 |