| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-22页 |
| ·概况 | 第10-14页 |
| ·研究背景 | 第14-19页 |
| ·论文的组织 | 第19-22页 |
| 第二章集成电路验证与测试综述 | 第22-46页 |
| ·集成电路的验证 | 第22-27页 |
| ·形式验证 | 第23-24页 |
| ·模拟验证 | 第24-25页 |
| ·其它方法 | 第25-27页 |
| ·测试生成 | 第27-37页 |
| ·相关概念 | 第27-28页 |
| ·算法类型 | 第28页 |
| ·组合电路门级测试生成 | 第28-33页 |
| ·时序电路测试生成 | 第33-37页 |
| ·可测性设计 | 第37-43页 |
| ·测试点插入 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第三章 RTL 测试生成 | 第46-68页 |
| ·硬件描述语言 | 第46-47页 |
| ·硬件描述语言的特点 | 第47-53页 |
| ·Verilog 与 VHDL 的特点 | 第47-49页 |
| ·时延 | 第49-51页 |
| ·顺序语句与并发语句 | 第51-52页 |
| ·过程性赋值与连续赋值 | 第52-53页 |
| ·硬件描述言对硬件的描述方法 | 第53-57页 |
| ·描述方式 | 第54-55页 |
| ·行为描述中的进程分析 | 第55-57页 |
| ·测试生成 | 第57-68页 |
| ·研究背景 | 第58页 |
| ·RTL 测试生成的研究现状及方法概述 | 第58-66页 |
| ·面临的困难与前景 | 第66-68页 |
| 第四章 基于状态与状态转换覆盖的测试生成 | 第68-84页 |
| ·RTL 电路的组成 | 第68-71页 |
| ·RTL 描述中的状态 | 第71-83页 |
| ·有限自动机 | 第71-75页 |
| ·状态间转换的约束条件 | 第75页 |
| ·RTL 代码内部的分枝问题 | 第75-80页 |
| ·状态覆盖向量的遗传算法筛选 | 第80-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 第五章 实验与结果 | 第84-93页 |
| ·VHDL 代码的预处理 | 第84-88页 |
| ·过程性语句与控制结构处理 | 第84-86页 |
| ·数据结构 | 第86-88页 |
| ·实验结果 | 第88-92页 |
| ·代码内部分枝扩展的实验结果 | 第88-90页 |
| ·状态覆盖向量的遗传算法筛选 | 第90-92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 第六章 高层故障模型分析 | 第93-110页 |
| ·门级 SA 故障模型 | 第93-95页 |
| ·RTL 故障模型评估 | 第95-99页 |
| ·RTL 故障模型间关系分析 | 第99-109页 |
| ·RTL 故障模型与门级 SA 故障模型间关系分析 | 第99-101页 |
| ·RTL 故障模型间关系分析 | 第101-104页 |
| ·应用 | 第104-107页 |
| ·实验与结果 | 第107-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 第七章 结束语 | 第110-114页 |
| ·本文的主要工作和贡献 | 第110-112页 |
| ·未来工作展望 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-121页 |
| 致谢 | 第121-122页 |
| 【作者简历】 | 第122-123页 |
| 附录 I ITC99-Benchmark 601 电路 VHDL 源代码 | 第123-126页 |
| 附录 II ITC99-Benchmark 603 电路 VHDL 源代码 | 第126-129页 |
| 附录 III Rtt 文档说明(Rtt-V1.0) | 第129-130页 |
