| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| ·FPGA 测试的国际研究动态 | 第10-13页 |
| ·FPGA 测试的国内研究现状 | 第13-14页 |
| ·FPGA 测试的一般方法和研究目标 | 第14-18页 |
| 第二章 Virtex 型FPGA 的体系架构 | 第18-29页 |
| ·基于SRAM 阵列的Virtex 架构 | 第18-19页 |
| ·CLB 模块的基本结构 | 第19-23页 |
| ·IOB 模块的基本结构 | 第23-24页 |
| ·SRAM Block 模块 | 第24-25页 |
| ·Virtex 的可编程布线资源 | 第25-29页 |
| ·局部布线资源（Local Routing） | 第25-26页 |
| ·通用布线资源（General Purpose Routing） | 第26-27页 |
| ·I/O 布线资源（I/O Routing） | 第27页 |
| ·专用布线资源（Dedicated Routing） | 第27页 |
| ·全局布线资源（Global Routing） | 第27-29页 |
| 第三章 FPGA 测试流程和测试平台开发简介 | 第29-37页 |
| ·数字芯片测试流程 | 第29-30页 |
| ·晶圆测试 | 第30-31页 |
| ·封装后测试 | 第31-32页 |
| ·Virtex100 的测试平台 | 第32-37页 |
| 第四章 常用的FPGA 测试理论分析 | 第37-55页 |
| ·穷举和伪穷举测试 | 第37-38页 |
| ·路径扫描设计 | 第38-40页 |
| ·路径扫描设计的基本结构 | 第38页 |
| ·测试码生成 | 第38-39页 |
| ·测试码应用 | 第39-40页 |
| ·边界扫描测试 | 第40-45页 |
| ·边界扫描测试的基本结构 | 第40-41页 |
| ·测试访问端口TAP | 第41-42页 |
| ·寄存器组 | 第42页 |
| ·TAP 控制器的状态和边界扫描指令集 | 第42-44页 |
| ·操作模式 | 第44-45页 |
| ·存储器测试 | 第45-52页 |
| ·存储器的功能故障类型 | 第45-49页 |
| ·固定型故障 | 第46页 |
| ·转换故障 | 第46-47页 |
| ·耦合故障 | 第47-48页 |
| ·码敏感故障 | 第48-49页 |
| ·时间故障 | 第49页 |
| ·外围逻辑故障 | 第49页 |
| ·存储器的测试算法 | 第49-52页 |
| ·MSCAN | 第49页 |
| ·GALPAT 算法 | 第49-50页 |
| ·算法测试序列 | 第50-51页 |
| ·步进码序列 | 第51页 |
| ·棋盘测试 | 第51-52页 |
| ·内建自测试BIST | 第52-55页 |
| 第五章 Virtex 的测试理论分析、算法选择和数值计算 | 第55-70页 |
| ·测试理论的分析流程和计算方式 | 第55页 |
| ·SRAM 查找表的测试理论分析 | 第55-60页 |
| ·查找表在RAM 模式下的测试理论分析 | 第56页 |
| ·查找表在ROM 模式下的测试理论分析 | 第56-58页 |
| ·查找表配置模式的测试方式 | 第58-60页 |
| ·CLB 中其它逻辑资源的测试方法分析 | 第60-65页 |
| ·CLB 的逻辑资源分类 | 第60-61页 |
| ·路径扫描链的配置 | 第61-63页 |
| ·路径扫描链的状态、测试指令和测试码生成 | 第63-65页 |
| ·IOB 的测试理论分析 | 第65-69页 |
| ·Virtex 边界扫描测试指令 | 第65-66页 |
| ·Virtex 的边界扫描结构 | 第66-68页 |
| ·IOB 的测试码生成 | 第68-69页 |
| ·SRAM Block 模块的测试分析 | 第69-70页 |
| 第六章 Virtex 的实测布局和仿真验证 | 第70-94页 |
| ·FPGA 的诊断测试 | 第70-71页 |
| ·CLB 的RAM、ROM 和附加逻辑测试 | 第71-80页 |
| ·在CLB 测试中应用FPGA 诊断测试 | 第71-73页 |
| ·在ROM32 模式测试中加入附加逻辑测试 | 第73-75页 |
| ·RAM/Shift 模式测试的仿真验证 | 第75-76页 |
| ·ROM 模式测试的仿真验证 | 第76-80页 |
| ·算术逻辑结构的测试功能仿真 | 第80-86页 |
| ·算术逻辑结构测试布局 | 第80-82页 |
| ·测试指令b 的仿真验证 | 第82-83页 |
| ·测试指令c 的仿真验证 | 第83-85页 |
| ·测试指令d 的仿真验证 | 第85-86页 |
| ·SRAM Block 的测试功能仿真 | 第86-94页 |
| ·March C+测试BSRAM 的4096×1 模式 | 第87-88页 |
| ·GALDIA 测试BSRAM 的256×16 模式 | 第88-91页 |
| ·采用GALDIA 算法对BSRAM 模块进行内建自测试 | 第91-94页 |
| 第七章 Virtex 的线网资源测试 | 第94-136页 |
| ·Virtex 的线网分类 | 第95页 |
| ·全局线网测试 | 第95-105页 |
| ·全局线网的测试结构 | 第96-99页 |
| ·全局线网测试结构的布局布线 | 第99-101页 |
| ·全局线网测试的激励生成和响应模式 | 第101-102页 |
| ·全局线网的BIST 测试 | 第102-104页 |
| ·垂直长线的测试方式 | 第104-105页 |
| ·局部线网资源和开关矩阵的测试 | 第105-129页 |
| ·局部线网分类和开关矩阵结构 | 第105-108页 |
| ·局部线网测试的信道宽度 | 第108-109页 |
| ·单长线的测试 | 第109-117页 |
| ·单长线在二级开关矩阵中的连接方式 | 第109-110页 |
| ·单长线的测试结构与测试图形 | 第110-115页 |
| ·单长线的测试激励、测试响应和辅助块配置结构 | 第115-117页 |
| ·六倍线网的测试 | 第117-129页 |
| ·六倍线的分类和组织形式 | 第117-118页 |
| ·六倍线的测试结构 | 第118-123页 |
| ·六倍线网的转向测试 | 第123-128页 |
| ·六倍线网的中点测试 | 第128-129页 |
| ·专用时钟布线与DLL 测试 | 第129-131页 |
| ·线网资源的补充测试 | 第131-136页 |
| ·测试覆盖分析 | 第131-132页 |
| ·一级开关矩阵测试 | 第132-135页 |
| ·输入矩阵测试 | 第132-134页 |
| ·输出矩阵测试 | 第134-135页 |
| ·线网测试总结 | 第135-136页 |
| 第八章 结论 | 第136-137页 |
| 致谢 | 第137-138页 |
| 参考文献 | 第138-140页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第140-141页 |
