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碲锌镉晶体表面处理、金属电极接触特性及其In掺杂行为

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-9页
论文的主要创新与贡献第9-10页
目录第10-13页
第一章 文献综述第13-45页
   ·引言第13-15页
   ·Cd_(1-x)Zn_xTe晶体的制备第15-17页
     ·传统Bridgman法第15页
     ·高压以及其他Bridgman法第15-17页
   ·CZT探测器的发展和应用第17-23页
     ·CZT探测器的类型第18-21页
     ·CZT探测器的应用第21-23页
   ·CZT晶体的电学性能第23-28页
     ·CZT晶体的电阻率第23-25页
     ·CZT晶体载流子的输运特性第25-26页
     ·CZT晶体的导电类型第26-28页
   ·CZT晶体的光学性能第28-31页
     ·光致发光特性第28-30页
     ·红外特性第30-31页
   ·CZT晶体的表面处理、金属接触以及掺杂行为第31-36页
     ·CZT表面钝化第31-32页
     ·CZT晶体与金属接触特性第32-35页
     ·In掺杂行为第35-36页
   ·本文的研究内容第36-37页
 本章参考文献第37-45页
第二章 CZT晶体的表面态与表面处理第45-60页
   ·CZT晶体的钝化原理和工艺第45-47页
   ·CZT晶体表面态研究第47-52页
     ·采用角分辨光电子谱研究CZT晶体表面态第47页
     ·同步辐射X射线光电子能谱(SXPS)研究CZT晶体表面钝化第47-49页
     ·XPS能谱研究CZT钝化表面第49-51页
     ·光致发光(PL)谱研究CZT晶体表面钝化第51-52页
   ·CZT晶体钝化前后的能带图和空穴输运途径图第52-54页
   ·同步辐射X射线光电子能谱计算Au/CZT接触的势垒高度第54-57页
   ·本章小结第57页
 本章参考文献第57-60页
第三章 CZT晶体的I-V和C-V电学特性第60-73页
   ·Au与CZT晶体接触的电学特性第60-67页
     ·Au/CZT晶体接触的电流-电压(I-V)特性第60-63页
     ·Au/CZT晶体接触的电压-电容(C-V)特性第63-67页
   ·耗尽层宽度以及应用电场的计算第67-69页
   ·三种计算接触势垒高度比较第69-70页
   ·本章小结第70页
 本章参考文献第70-73页
第四章 金属-CZT晶体接触电学特性与退火的影响第73-86页
   ·生长态的CZT晶体退火处理第73-75页
   ·不同金属与CZT晶体的接触特性第75-80页
   ·Au沉积CZT晶体表面的PL谱第80页
   ·高阻CZT晶体与Au接触的XPS分析第80-81页
   ·Au与CZT晶体接触的退火行为第81-84页
   ·本章小结第84页
 本章参考文献第84-86页
第五章 锢(In)掺杂对CZT晶体性能的影响第86-101页
   ·In掺杂CZT晶体的PL谱分析第86-91页
     ·In掺杂CZT晶体的能级计算第87-89页
     ·PL谱与温度的依赖关系第89-91页
   ·不同掺杂量的CZT:In晶体PL谱第91-95页
   ·CZT:In晶体的红外透过特性第95-97页
   ·CZT:In晶体的电学性能第97-98页
   ·本章小结第98-99页
 本章参考文献第99-101页
第六章 CZT探测器的试制第101-112页
   ·CZT辐射探测器工作原理第101-103页
   ·CZT探测器的信号和提高其性能的方法第103-106页
   ·CZT探测器的制作工艺第106-108页
     ·晶片的切割与抛光第106页
     ·腐蚀与钝化第106-107页
     ·电极制作第107页
     ·光刻第107页
     ·封装第107-108页
   ·CZT探测器的能谱测试第108-109页
   ·像素CZT探测器的初探第109-111页
   ·本章小结第111页
 本章参考文献第111-112页
主要结论第112-114页
攻读博士学位期间发表的学术论文第114-117页
致谢第117-118页

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