| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| ·研究可测性设计的意义和目的 | 第8-11页 |
| ·本文主要内容 | 第11-13页 |
| 2 集成电路测试技术概述 | 第13-26页 |
| ·集成电路缺陷、失效与故障 | 第13-16页 |
| ·集成电路测试种类 | 第16-20页 |
| ·可测性设计类型 | 第20-26页 |
| 3 基于扫描的测试解决方案 | 第26-42页 |
| ·STN LCD 驱动控制芯片简介 | 第26-27页 |
| ·核心逻辑扫描测试方案 | 第27-30页 |
| ·测试方案的具体实现 | 第30-35页 |
| ·影响测试覆盖率的因素及解决办法 | 第35-42页 |
| 4 嵌入式SRAM 测试方案 | 第42-54页 |
| ·SRAM 的故障模型 | 第42-45页 |
| ·SRAM 的故障检测算法 | 第45-48页 |
| ·本设计中内嵌SRAM 的测试 | 第48-54页 |
| 5 测试向量的生成 | 第54-60页 |
| ·确定性测试向量生成原理 | 第54-56页 |
| ·故障集合的压缩 | 第56-57页 |
| ·本设计自动测试向量的生成 | 第57-60页 |
| 6 全文总结 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 附录1 作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66页 |