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多层介质膜光栅掩模槽形的控制与检测

第一章 引言第1-13页
 1.1 研究惯性约束核聚变的意义第10页
 1.2 国际上脉冲压缩光栅的研究进展第10-11页
 1.3 论文的研究目的第11-12页
 1.4 论文的研究工作第12-13页
第二章 光栅衍射理论和光刻胶的感光特性第13-27页
 2.1 光栅衍射理论简介第13页
 2.2 严格耦合波理论对多层介质膜光栅(掩模)的分析第13-17页
 2.3 基于RCW理论的多层介质膜光栅衍射效率计算结果的验证第17-20页
 2.3 光刻胶感光特性第20-27页
第三章 光刻胶特性与光栅掩模槽形控制的实验研究第27-41页
 3.1 光栅掩模的制作工艺流程第27-28页
 3.2 光刻胶特性的实验研究方案第28-29页
 3.3 光刻胶特性的影响因素分析第29-32页
 3.4 光栅掩模槽形的控制研究第32-41页
第四章 显影实时监测第41-58页
 4.1 引言第41页
 4.2 原理第41-42页
 4.3 显影过程的理论研究第42-45页
 4.4 显影过程的实验研究第45-50页
 4.5 实验结果与分析第50-56页
 4.6 后记第56-58页
第五章 多层介质膜光栅掩模的光谱检测第58-69页
 5.1 光谱检测的理论数据分析第58-65页
 5.2 实验测量及分析第65-68页
 5.3 小结第68-69页
结论第69-70页
参考文献第70-73页
攻读学位期间发表的论文第73-74页
致谢第74页

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