基于DSP的继电保护程控测试源的研究
| 第1章 绪论 | 第1-14页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·继电保护测试技术的发展 | 第8-13页 |
| ·我国继电保护测试技术的发展 | 第8-10页 |
| ·继电保护试验装置的发展回顾 | 第10-11页 |
| ·国内外继电保护测试装置的发展现状 | 第11页 |
| ·新技术在继电保护测试中的应用 | 第11-13页 |
| ·DSP技术在电力系统中应用的意义 | 第13页 |
| ·论文主要工作 | 第13-14页 |
| 第2章 继电保护测试系统及其程控测试源 | 第14-22页 |
| ·继电保护测试系统的构成 | 第14-15页 |
| ·继电保护测试系统的原理 | 第14页 |
| ·继电保护测试系统的构成 | 第14-15页 |
| ·继电保护测试系统的测试源 | 第15-18页 |
| ·基于单片机的程控测试源 | 第15-16页 |
| ·基于DSP的程控测试源 | 第16-18页 |
| ·动态程控测试源 | 第18-19页 |
| ·波形发生的基本原理 | 第19-20页 |
| ·一般正弦波形的发生原理 | 第20页 |
| ·合成谐波的发生原理 | 第20页 |
| ·系统的可靠性设计途径 | 第20-22页 |
| 第3章 DSP芯片及其应用系统 | 第22-30页 |
| ·数字信号处理器芯片 | 第22-27页 |
| ·DSP芯片的基本结构特征 | 第22-24页 |
| ·DSP芯片的性能指标 | 第24-25页 |
| ·DSP芯片的分类 | 第25-26页 |
| ·TMS320C2XX系列DSP芯片的特征 | 第26-27页 |
| ·DSP应用系统 | 第27-30页 |
| ·DSP应用系统的构成 | 第27页 |
| ·DSP系统的特点 | 第27-28页 |
| ·DSP系统的设计过程 | 第28-30页 |
| 第4章 基于DSP程控测试源系统的硬件设计与实现 | 第30-43页 |
| ·基于DSP程控测试源系统的功能框图 | 第30页 |
| ·主要芯片和器件的选择 | 第30-33页 |
| ·DSP芯片的选择 | 第30-31页 |
| ·数模转换芯片的选择 | 第31-32页 |
| ·RAM芯片的选择 | 第32-33页 |
| ·CPLD芯片的选择 | 第33页 |
| ·电源芯片的选择 | 第33页 |
| ·前向通道设计 | 第33-36页 |
| ·模拟量的输入 | 第34-35页 |
| ·开关量的输入 | 第35-36页 |
| ·后向通道的设计 | 第36-37页 |
| ·基于CPLD译码电路的设计 | 第37-38页 |
| ·存储器接口电路的设计 | 第38-39页 |
| ·通讯接口电路的设计 | 第39-41页 |
| ·RS-232通信接口电路 | 第40-41页 |
| ·CAN通信接口电路 | 第41页 |
| ·系统的硬件调试 | 第41-43页 |
| 第5章 基于DSP程控测试源的部分软件设计 | 第43-56页 |
| ·CCS集成开发环境 | 第43-44页 |
| ·DSP软件开发流程 | 第44-45页 |
| ·关于软件设计中的几个问题 | 第45-51页 |
| ·TMS320LF2407的中断 | 第46-47页 |
| ·TMS320LF2407的定时器 | 第47-48页 |
| ·定点DSP的浮点计算 | 第48-50页 |
| ·链接命令文件的编写 | 第50-51页 |
| ·系统流程图 | 第51-52页 |
| ·基本波形发生流程图 | 第52-54页 |
| ·双通道正弦波形发生流程图 | 第52页 |
| ·单通道正弦波形发生流程图 | 第52-53页 |
| ·单通道合成谐波发生谐波流程图 | 第53-54页 |
| ·基于RS-232接口的通讯 | 第54-56页 |
| ·串行通信的基本概念 | 第54页 |
| ·基于RS-232接口的通信程序设计 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 附录1 波形发生结果 | 第62-65页 |
| 附录2 基于DSP继电保护程控测试源系统电路图 | 第65-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66页 |
