| 第一章 绪论 | 第1-9页 |
| 1．1 36E电子设备概述 | 第6-7页 |
| 1．2 研制36E电子设备整体测试系统的意义 | 第7页 |
| 1．3 本课题的研究内容 | 第7-9页 |
| 第二章 36E电子设备整体测试系统的组成 | 第9-22页 |
| 2．1 36E电子设备的工作原理概述 | 第9-17页 |
| 2．1．1 36E电子设备的功能组成34 | 第9-11页 |
| 2．1．2 36E电子设备的工作原理 | 第11-17页 |
| 2．2 36E电子设备整体测试系统总体方案设计 | 第17-21页 |
| 2．2．1 总体方案设计 | 第17-20页 |
| 2．2．2 硬件设计方案 | 第20页 |
| 2．2．3 软件设计方案 | 第20-21页 |
| 2．3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 36E电子设备整体测试系统的硬件设计 | 第22-38页 |
| 3．1 硬件组成 | 第22-23页 |
| 3．2 信号适配器的设计 | 第23页 |
| 3．3 32位双极性串行码仿真器和检测器的实现 | 第23-30页 |
| 3．3．1 ARINC429通讯规范简介 | 第23-24页 |
| 3．3．2 HT-2306嵌入式ARINC429通讯板介绍 | 第24-27页 |
| 3．3．3 36E电子设备中的32位双极性串行码介绍 | 第27页 |
| 3．3．4 应用HT2306总线插卡产生和检测双极性串行码322 | 第27-29页 |
| 3．3．5 双极性串行码仿真器的调试 | 第29-30页 |
| 3．4 格雷码仿真器的设计 | 第30-35页 |
| 3．4．1 格雷码介绍 | 第30-32页 |
| 3．4．2 格雷码仿真器的功能指标 | 第32-33页 |
| 3．4．3 格雷码仿真器的具体设计 | 第33-35页 |
| 3．5 其他仿真信号的功能指标及具体实现 | 第35-36页 |
| 3．6 输出信号的检测 | 第36-37页 |
| 3．7 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 36E电子设备整体测试系统的软件 | 第38-44页 |
| 4．1 Labwindows／CVI介绍 | 第38页 |
| 4．2 36E电子设备整体测试系统的软件设计方案 | 第38-42页 |
| 4．2．1 测试软件的模块组成 | 第38-39页 |
| 4．2．2 具体设计 | 第39-42页 |
| 4．3 测试系统的调试 | 第42-43页 |
| 4．4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 结束语 | 第44-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 攻读硕士学位期间已发表的学术论文 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47页 |
